光学粒子测量系统 - Camsizer®X2

新的卡姆西泽X2非常适用于大大提高细粉的质量控制:更精确快速地分析颗粒形状和粒度有助于提高产品质量,节省劳动力成本,能源和原料,减少拒绝。亚博网站下载

Capsizer X2的设计基于着名的光学粒子测量系统Cabsizer,但优化了更精细的样品(0.8μm至8 mm)。由于增强的光学分辨率以及材料馈送的新选项,因此允许扩展应用范围。细颗粒可能凝yabo214聚,这使得难以记录单个颗粒的性质。因此,重要的是具有将样品饲喂到分析区域的不同可能性,以便为每个材料找到各种颗粒的不希望的破坏和附聚物的所需分散体之间的最佳选择。

CAMSIZER X2提供灵活的X-Change系统:从X-Fall模块(自由下落模式),这被认为是材料最温和的方法,到具有可变喷嘴几何形状和可调压力的X-Jet模块,以及颗粒分散在液体中的X-Flow模块,可选择使用超声波探头。yabo214

应用实例

磨料(中型和小砂砾),水泥,化学品,建筑材料,活性炭,洗涤剂和酶,食品(粉碎和颗粒),玻璃珠,金属和矿石粉末,药物粉末/颗粒/细颗粒,塑料粉末,亚博网站下载塑料纤维,盐,糖,木纤维,沙子

产品优势

  • 可靠地检测最小的“超大”和“尺寸”
  • 极短的测量时间为1 - 3分钟
  • 用于干湿分散的模块化系统X-Change
  • 如果需要,测量结果100%兼容筛分分析
  • 直观的软件
  • 采用专利双摄像头系统的数字图像处理(符合ISO 13322-2)
  • 校准在秒内
  • 简单的处理可防止操作错误
  • 密码保护仪器设置
  • 自动测量程序
  • 坚固的设计,对振动和灰尘不敏感
  • 自洗,免维护,无耐用
  • 多种语言版本(英语、德语和其他语言)
  • 详细的粒度分析-结果保存在1000多个粒度类别中
  • 同时分析粒度,数量,形状,透明度和密度
  • 非接触、非破坏性测量
  • 比筛分分析更少的时间和劳动力
  • 宽动态测量范围为0.8μm至8 mm(可用的扩展测量范围)
  • 具有超强LED的新开发的光学系统,用于最高分辨率和卓越的锐度深度

特征

测量原理 动态图像分析(ISO 13322-2)
测量范围 标准
0.8μm至8 mm
10µm至8 mm(重力分散)
0.8μm至5 mm(气压分散)
0.8μm至1 mm(湿分散)
扩展测量范围
分析类型 干湿分析
测量时间 〜1至3分钟(取决于所需的测量统计数据)
相机数量 2
样本量 <20 mg - 500克(取决于样品类型和测量模式)
测量方法 > 300图像/ s,每个图像,约。4.2 mpixel.
分析区域的宽度 〜20 x 20 mm
决议 每像素0.8μm
测量参数 粒度(最小直径、长度、平均直径等)颗粒形状(长宽比、对称性、球形度、凸度等,符合ISO 9276-6)
方面(W x H x D) 〜850 x 580 x 570 mm
重量(测量单位) 〜50千克
操作单位 四核PC包括Windows 10,监视器,键盘和鼠标,网卡,用于硬件通信的PC接口卡,评估软件

函数原则

CAMSIZER X2利用数字图像处理原理。专利原理相当简单:分散的粒子在两个明亮的脉冲LED光源前移动。两台数码相机用于捕捉粒子的阴影。yabo214

优化一台摄像机以检查具有高分辨率的小颗粒,用于识别具有良好统计数据的大颗粒,这意味着大视野。yabo214每个相机由一个LED照亮,具有优化的亮度,视野和脉冲长度。用户友好型的软件用于分析每个粒子的形状和大小,并且它最终实时计算各个分布曲线。

粒子X-PLOER软件模块-RETSCH技术

粒子分析仪CAMSIZER X2 - RETSCH技术

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