的Hiden MAXIM四重SIMS分析仪是一个用于动态和静态SNMS和SIMS应用的系统。该分析仪是一种先进的二次离子质谱仪为负和正，动态，静态和中性分析应用。
30°接受角使MAXIM的安装轴线平行于样品的平面，为其他离子或光学留下一个清晰的采样区域的视图。该探针具有良好的样品充电性能，是分析绝缘子的理想探针。此外，大的接受角度允许广域成像。
特性
Hiden MAXIM四重SIMS分析仪的主要特点如下:
- 极径:9毫米
- 退火:250°C
- 质量过滤器:三重过滤器
- 离子能量过滤器:30°角接受度
- 质量范围选择:300 amu, 500 amu或1000 amu
- 离子发生器:电子轰击，单丝SNMS和RGA
- 检测器:离子计数检测器，107正负离子检测