EOTPR 5000 - 先进的IC封装的故障隔离和互连检查

电光太赫兹脉冲反射(EOTPR),由TeraView开发的,是一种创新的,基于太赫兹时域反射(TDR)技术,理想的故障隔离和先进的IC封装互连检查。

TeraView专有EOTPR技术用于由EOTPR 5000检测到互连质量的全自动化,快速的测量速度,并在现有大批量制造环境所需的高吞吐量。此外,它被认为是唯一的IC互连的检测技术当前可用的,在定位精度和检测灵敏度的前沿作品。

目前可用的先进集成电路封装容易发生翘曲引起的互连故障,包括出现在封装对封装(PoP)设备中的头入枕缺陷。电气或逻辑测试人员可能无法捕捉到这些边缘或薄弱的互连条件。

所述EOTPR 5000的优异的灵敏度和精确度,可以使用加速寿命或高温循环试验后,以检测从弱或边际互连阻抗分钟变化。以这种方式,有可能降低制造偏差,提高包装相关的产率。

产品特色

在EOTPR 5000的主要特点如下:

  • 支持SECS / GEM工厂自动化接口
  • 与BGA的在400微米的范围内至1mm兼容
  • 完全自动化的设备合并能力
  • 全自动探测,配方创建和维修/维护模式
  • 一套完整的软件,以使数据收集和分析
  • 自动探头校准,以确定信号和地面的探针针尖的位置

TeraView EOTPR 5000

全自动先进IC封装检测系统

系统规格

尺寸(LXWXH) 96 X 213 X170厘米(不包括JEDEC托盘装载器)
重量(近似) 千公斤
电力需求 1×32 AMP,220伏电源
压缩空气要求 1×60 - 80psi的

EOTPR能力

EOTPR脉冲上升时间 6个PS(基于被处理数据)定义为时间的反射脉冲从高频探头的端部以从10%上升到其最大值的90%的
准确性 能够定位于50Ω共面波导的特征定位为靠近高频探头具有±5μm的精度
范围 向上从与探针接触200mm的一个典型的包
输入阻抗 50Ω标称
通道输入连接器 1毫米

全自动功能

操作模式 全自动化的探测,配方创建和维修/维护模式
探头类型 与市售高频探头兼容
间距BGA 支持BGA间距从400微米至1毫米
探头校准 自动探头校准
被测设备的尺寸 最小为5mm×5mm的
最大:35毫米×35毫米
设备处理 设备通过JEDEC托盘载入到系统
设备标识 二维条码阅读器
最小BGA直径 200微米
每个引脚的测量时间 0.5秒
软件 一套完整的软件将提供使数据收集和分析
软件操作系统 Windows Server 2012中
集成工厂自动化 软件可以定制,以满足客户特定的工厂自动化要求
环境 10,000级洁净室兼容工作温度范围:18℃(64°F) - 30℃(86°F)
温度稳定性±2℃
操作湿度:20% - 80%
(非冷凝)
emc. 符合SEMI标准E33
SEMI标准符合性 系统是符合SEMI标准S2,S8和E33

EOTPR 5000

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