来自Zygo的NewView™8000系列3D光学表面分析器在非接触式光学表面分析中提供强大的多功能性。它们进行快速，无损测量，无需样品制备。高级软件工具用于表征和量化表面粗糙度，临界尺寸步高度，以及具有优异精度和精度的地形特征。
型材高度可以从1nm到20000μm变化，高速，无论放大，表面纹理或特征高度如何。
NewView 8000系列分析器使用Zygo的专利技术进行一致扫描干涉测量（CSI），以轻松测量各种表面类型，包括平坦，光滑，粗糙，阶梯和倾斜。
性能，价值和多功能性
这NewView 8000分析器有两种配置可用：三重缩放配备纽维威8300系统，以及单个Zoom NewView 8200配置。
无论选择模型，所有纽维尤8000系统都提供了易用性，高精度测量，并以有吸引力的价格具有广泛的应用，使系统成为3D光学分析器中的值和多功能性的完美选择。
高级分析和控制软件
NewView 8000系列使用全新的MX™软件全新系统控制和数据分析，包括直观的测量导航，定量地形信息，丰富的交互式3D地图，内置SPC，具有统计数据，通过/失败限制和控制图。
- 灵活分析- 包括多种数据视图，定量结果和过滤器
- 直观的用户界面使用基于工作流的设计使其简单地学习和使用
- 交互式3D情节- 缩放，旋转，平移和更新实时导致结果
- 内置SPC分析工具轨道流程统计信息，监视传递失败标准和跟踪结果
用于特定要求的其他应用模块，例如2D视觉分析和在存在透明电影中的测量，可用于需要这些能力的客户。
MX软件屏幕（点击图片以获取较大的视图）
Newview 8000系列光学分析系统
灵活配置
NewView 8000分析器包括一个开放式工作区域，具有清晰的视线，可以快速简单地帮助制作转换和测量设置。系统可以提供各种样品分期，从完全手动X / Y和倾斜级分段，到完全自动阶段，具有4度倾斜和150 mm的行程。
紧凑尺寸和集成隔离系统使系统适用于台式安装，可选的支架和工作站使其成为理想的生产式系统。
开放式工作区具有清晰的视线
主要特征
NewView™8000系列3D光学表面分析器的主要功能如下：
- 快速的非接触式测量
- 亚埃精度
- 增强光学成像
- 高级3D表面可视化
- 前沿精度和量具能力
- 两种型号可供选择：三重缩放或单个缩放