这示例®+
来自B&W Tek是一种高性能智能光谱仪,利用低杂散展开的胫骨式胞胎传感器光谱仪。它具有高度敏感的TE冷却后稀释(BT)CCD检测器,其线性总结为高动态范围。
示例性加上高量子效率检测器的长焦度长度在整个190-1100nm光谱范围内提供出色的数据质量。它具有高信噪比,这使其成为低光级应用。它还具有一个集成的快门,即使在照明时也能够实现暗扫描测量。
作为Exemplar产品线的一员,它具有USB 3.0通信和板上数据处理功能。Exemplar产品线也针对多通道操作进行了优化,其特点是门抖动和超低触发器。
作为一个标准配置,Exemplar Plus配备了:LVF滤波器,波长范围为200 - 850nm,光谱分辨率为1.5 nm, 25µm狭缝,直纹光栅(800 mm/250 nm)。
应用程序
示例性Plus的关键应用如下:
- 拉曼和荧光光谱
- 低光水平UV至NIR光谱
- 天然气分析
- 在线过程监控
- LED表征
- LCD显示测量
特征
示例Plus的关键特征如下:
聪明的
板载加工,包括平均,平滑和黑暗补偿。
速度
在6.3 ms的积分时间内获得并传输超过140个光谱/秒。
同步
支持多达32个器件与门抖动(+/- 20 ns)和超低触发延迟(95 ns)。
信噪比:
板载平均1 |
〜540 |
板载平均10 |
〜1900 |
板载平均100 |
〜4800 |
附加功能
- 高紫外线,VIS和NIR反应
- 探测器元素:2048
- 超过60%的QE,200nm
- 集成快门
- 可配置的冷却温度(0°默认)
- 超过90%的QE
规格
示例性Plus的关键规范如下:
电源输入 |
5 V DC @ 6 A(启动时最大值) 5 V DC @ 2.5 A(正常操作典型) |
探测器类型 |
背部变薄CCD阵列 |
波长范围 |
190 nm - 1100 nm |
探测器像素格式 |
2048有效探测器元素 |
有效像素大小 |
14μmx〜0.9 mm |
光谱仪F /# |
3.6 |
摄谱仪光学布局 |
标准胫骨制圆圈 |
动态范围 |
50,000(典型) |
数字化器分辨率 |
16位或65,5535:1 |
数据传输速度 |
>每秒140个频谱在突发模式下的集成时间为6.3ms |
触发延迟 |
95 ns +/- 20 ns(调用时序图) |
读数速度 |
> 400 kHz. |
集成时间 |
6.3 ms,可调节1μs增量 |
奥克斯港口 |
外部触发,4个数字输出(2带快门控制),2数字输入,模拟输入,模拟输出和系统复位 |
工作温度 |
5°C - 35°C |
操作相对湿度 |
85%的非杯子 |
CCD冷却 |
默认值:0°C在25°C的环境下。 |
重量 |
3.6磅(1.6千克) |
方面 |
7.40 in x 5.05 in x 2.80 in(188 mm x 128 mm x 71 mm) |
电脑界面 |
USB 3.0 / 2.0 |
操作系统 |
Windows:7,8(32位&64位) |
技术细节
光谱仪
入射狭缝
狭缝的选择 |
方面 |
约。分辨率350 - 750 nm |
10μm |
10μm宽x 1 mm高 |
称呼 |
25μm. |
25µm宽,1mm高 |
~ 1.8海里 |
50微米 |
50μm宽x 1 mm高 |
〜2.9 nm. |
100μm. |
100µm宽,1mm高 |
~ 4.5海里 |
200μm |
200μm宽x 1 mm高 |
称呼 |
可用自定义狭缝宽度 |
衍射光栅
最佳效率 |
光谱覆盖(NM) |
光栅 |
VIS / NIR. |
350 - 1050 |
400/550 |
近红外光谱 |
750 - 1050 |
1000/900 |
uv-nir. |
190 - 1100 |
300/280 |
紫外线 |
190 - 380 |
1500/250 |
可用的自定义配置 |