ZEISS Xradia 510 Versa 3D x射线显微镜

ZEISS Xradia 510 Versa 3D x射线显微镜(XRM)是一种3D亚微米成像系统，提供突破性的灵活性。使用业内领先的原位/4D解决方案，用户现在可以实现新的发现水平。

蔡司独特的距离分辨率(RaaD)能力打破了1微米的分辨率障碍的样品范围从毫米到厘米。该仪器提供了强大的对比度和分辨率的结合，灵活的工作距离，以扩展实验室的非破坏性成像的能力。

突出了

真正的亚微米空间分辨率在毫米到英寸的来源

Xradia 510 Versa最大限度地发挥XRM的能力，在各种研究环境中进行灵活的3D成像。其真实空间分辨率优于0.7 μm，最小可实现体素尺寸小于70 nm。用户现在可以体验到软组织或低Z材料的多功能性，结合先进的吸收对比度和新颖的相位对比度，以解决传统计算机断层扫描固有的局限性。亚博网站下载

与Versa Xradia 510，用户可以实现超越micro-CT的性能，并将科学研究扩展到超越平板系统的极限。与传统层析成像依赖于单一级几何放大不同，Xradia Versa显微镜包括一个独特的两级过程，基于同步口径光学，具有优化的检测系统分辨率，以在大工作距离下的对比度、分辨率、对比度和高分辨率。

通过ZEISS远距离分辨率(RaaD)的突破，用户可以针对不同类型的样品和应用实现无与伦比的基于实验室的探索。

得益于非破坏性x射线和灵活的多长度尺度能力，用户可以在大范围的放大范围内对相同的样品进行成像。通过Xradia Versa，他们可以研究材料的性能随时间的演变，并在其自然环境中表征材料的微观结构。亚博网站下载

可选的Versa In Situ Kit可用于优化设置;使操作简单，提供更快的结果，并组织设施，支持现场钻机(如管道和布线)，以方便使用和最大的成像性能。此外，Scout-and-Scan控制系统支持基于食谱设置的高效工作流程环境，使Xradia 510 Versa易于具有不同体验水平的用户使用。

好处

Xradia Versa架构采用两级放大方法，允许用户实现RaaD。第一阶段，像传统的micro-CT一样，对样本图像进行几何放大。

在第二阶段，闪烁体将x射线转换为可见光，然后光学放大。由于减少了对几何放大的依赖，Xradia Versa仪器在大工作距离下保持亚微米分辨率。

这允许用户有效地研究范围最广的样品尺寸，包括在原位室。系统的核心架构所获得的好处通过一系列可选特性得到了进一步扩展。

• 利用先进的Versa显微镜设计，在距离源最大的工作距离上实现最高分辨率，这是原位和大样本成像的先决条件
• 使用非破坏性3D成像保存和扩展有价值的样品的使用
• 行业领先的4D和现场能力支持一系列现场钻机，用于实际尺寸样品(毫米到英寸)的亚微米成像，样品尺寸可达300毫米，重量可达25公斤
• 在宽范围内对同一样品进行多长尺度成像，<0.7µm的真空间分辨率和低于70 nm的体素大小
• 独特的结构和双级放大的结合，可以通过自动多点断层扫描和重复扫描进行连续操作;易于导航通过多重放大探测器系统;高速重建
• 自动装载器选项使用户可以编程并运行多达14个样品，以最大限度地提高生产率，并自动化高容量扫描的工作流程
• 先进的吸收和相位对比软组织和低Z材料亚博网站下载
• Scout-and-Scan™控制系统，简单易用的工作流程设置，适合多用户环境
• 最小的样品准备需求
• 可选Versa In Situ Kit组织支持环境室的设施(如管道和布线)，以简化设置，并允许最大限度的成像性能