弥合基于实验室的非破坏性亚微米显微镜的差距
蔡司Xradia 410 Versa是一个强大,有价值的“Workhorse”解决方案,专为3D亚微米成像而设计。它桥接在更强大的计算机断层扫描(CT)系统和高性能X射线显微镜之间的差距。
该仪器可提供非破坏性的3D成像,具有出色的对比度,分辨率,对比度和原位能力。它允许用户对最广泛的样本尺寸进行开拓性研究,并改善各种实验室环境中的成像工作流程。
强调
行业领先的4D和柔性样本尺寸和类型的原位能力
这Xradia 410 Versa X射线显微镜提供灵活且经济高效的3D成像,使用户能够满足各种样本和研究环境。非破坏性X射线成像维持并随着时间的推移而延伸使用有价值的样品。该系统实现0.9μm真正的空间分辨率,最小可实现的体素大小为100nm。
对于软或低Z材料的复杂吸收和相位对比,用户提供了更通用的功能来解决常规计算断层扫描(CT)方法的局限性。亚博网站下载
Xradia Versa Instruments将科学研究扩展,超出了基于投影的微型和纳米CT系统的限制。与传统断层摄影不同,Xradia 410 Versa包括基于Synchrotron-Calibre光学器件的独特的两阶段过程,与依赖于几何放大倍率的单个阶段。该仪器是用户友好的,并提供灵活的对比度。
Zeiss的突破性分辨率在距离(RAAD)允许用户在一系列原位钻机和本土环境中维持跨越广谱样品尺寸的亚微秒分辨率。
由于非破坏性的多长度尺度功能,用户可以通过各种放大倍率进行相同的样本。这使得可以表征材料微观结构性质的演变,因为它们经受模拟的环境条件(原位)或顺序处理(4D)之间。
侦察扫描控制系统允许有效的工作流环境,具有基于配备的设置,使得Xradia 410 Versa.容易获得具有不同程度的经验。
好处
使用两级放大倍率技术Xradia Versa.架构使用户能够在距离(RAAD)处实现分辨率。通过与传统的微CT的几何放大倍率可以放大样本图像。在第二阶段,闪烁体将X射线转换为可见光,然后光学放大。
由于减少对几何放大倍率的依赖,Xradia Versa Instruments在大型工作距离处维持亚微米分辨率。这允许用户有效地探索最广泛的样本尺寸,包括在原位腔室内。
- 高空间分辨率降至<0.9μm和voxel大小至100nm
- 非破坏性3D成像以保护和扩展使用有价值的样品
- 软组织和低Z材料的复杂对比度解决方案亚博网站下载
- Scout-and-scan™控制系统,用于简单且简单的工作流设置,适用于多用户环境
- 先进于柔性样本尺寸和类型的原位和4D功能
- 样品制备的最小需求
- 重载样品阶段和扩展源和探测器阶段行程
- 通过多个放大镜系统轻松导航
- 高速重建
- 通过自动化多点断层扫描和重复扫描的连续操作
- 高速重建
- Autoloader选项允许用户一次编程并运行最多14个样本,以提高生产率,并自动化高批量扫描工作流程
- Accoption Versa In Stuit Kit组织了支持环境室(如管道和接线)的设施,以便于设置和促进最大的成像性能,同时提供最高的3D分辨率原位应用程序
Zeiss Xradia 410 Versa 3D X射线显微镜