的SENresearch 4.0椭偏光谱仪覆盖最宽的光谱范围;190nm代表深紫外光，3500 nm代表近红外(NIR)。高光谱分辨率使用户能够使用FTIR椭偏仪分析厚度达200µm的厚膜。
在数据采集过程中没有移动的光学部件，以获得良好的测量结果。阶跃扫描分析仪(SSA)原理是SENresearch 4.0光谱椭偏仪的一个显著特点。扩展版的SSA原理与创新的2C设计，使测量全穆勒矩阵。2C设计是一个成本效益和现场升级配件。
SpectraRay/4是一款功能全面的软件包，用于复杂的材料分析。SpectraRay/4由常规应用的配方模式和研究的交互模式以及引导的图形用户界面组成。
SENTECH SENresearch 4.0是最新的光谱椭偏仪，每个椭偏仪都配置了客户指定的光谱范围。
SENresearch 4.0利用快速FTIR椭偏仪，分别用于2500 nm和3500 nm的近红外范围。它提供了最宽的光谱范围，优良的信噪比和优越的，可选择的光谱分辨率。FTIR椭偏仪的测量速度可以与二极管阵列配置相比较，二极管阵列也可以选择高达1700 nm。
新的电动金字塔测角仪的角度范围在20°到100°之间。光学编码器保证长时间的稳定性和角度设置的最大精度。椭偏仪的臂可以自由移动，以获得角度分辨的透射和散射测量。
SENresearch 4.0采用了SSA原理。这将强度测量与机械运动分离开来，从而允许对粗糙样品进行分析。为了确保最佳的测量结果，在数据采集过程中没有移动部件。除此之外，SENresearch 4.0还包括一个快速测量模式，用于现场和绘图应用。
关键特性
- 可以根据客户的规格定做吗
- 可以为标准和高级应用程序配置
- 对于各种各样的应用程序，还提供了预定义的食谱
应用程序
- 光学各向异性样品
- 介电层堆栈
- 结构三维各向异性样品
- 纹理的表面