来自SETECH的多个角激光椭圆仪SE 400APV PV旨在在纹理多晶硅和单晶硅晶片上以632.8nm的恒定多晶硅和单晶硅晶片上的抗反射单膜的折射率和膜厚度。
可互换的晶片持有者能够在碱性纹理的单晶晶晶ER和多晶硅晶片上进行测量。SE 400Adv PV激光椭圆仪可以专门检查ITO，TIO的涂层2，罪恶X和薄钝化层2O.3.和SiO.2。可以在光滑的基板上检查双层堆叠。
这SE 400APV PV.是一个快速启动的紧凑型工具。SENTECH简单使用，配方的软件软件包包含完整的预定义应用程序，其与生产设置中的R＆D的必需品以及质量控制匹配。
提供用于光伏应用程序的便携式激光椭圆仪，用于在整个生产线开始之前测试和安装大型PECVD系统。
特殊准确性和稳定性 -这是由于温度稳定补偿器设置，超低噪声检测器和稳定的激光光源。
弧形世界标准- 目前在SE 400 adv PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV PV激光椭圆仪用于在全球范围内进行抗反射涂层。
粗糙表面分析- 非常灵敏，超低噪声检测允许对纹理多晶硅和单晶硅太阳能电池进行纹理的非理想杂散灯具的测量。