这C11011-01光学微胶种厚度测量系统可从Hamamatsu获得的是一种利用激光干涉测量法的薄膜厚度测量系统。它与生产中的在线测量相关。另外，可选的映射系统可用于测量指定样本的厚度分布。
C11011-01可用于从产品制造过程监测到质量控制的许多应用中。
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主要特点
- 60 Hz的高速测量
- 用保护膜的图案形成晶片或晶片的测量
- 红外测光测量非透明（白色）样品
- 长工作距离
- 提供外部控制
- 映射操作
应用程序
- 电影- 在处理液晶显示器，太阳能电池板和可充电电池的先进产业中，高效电影越来越重要。为了提高这些产品的生产率和性能，滨松提供了一系列的检查和测试设备。app亚博体育
- 半导体- 光学仪系列应用于许多半导体器件的制造程序，其中工艺逐渐更加小型化，而金属布线更加多层，以及较低的电压。这增加了产量的增强，并减少了开始流程所需的时间。
- 触控面板-尽管触摸面板的检测方案有很多，但这里以电阻膜制造过程为例，说明光学规系列在这一过程中的使用方式。
- PV.- 太阳能发电量不断增长到旨在减少温室气体排放和其他属性的扇区。此外，若干公司参与了提高发电中使用的模块或太阳能电池的转换效率的研究。光学仪系列可以应用于太阳能电池或模块的许多过程中。
- FPD.- 光学仪系列可以在平板显示器（FPD）制造中的许多过程中，例如VFD荧光显示管，LED，有机EL，液晶和等离子体显示器。