的NaniteAFM扫描头占地面积小，这使得NaniteAFM成为集成到自动化工业环境中的最合适的原子力显微镜。
纳米afm的分辨率小于1 nm。这种分辨率使显微镜能够识别和可视化非常小的表面结构。通过广泛的集成可能性和设备的简单处理，产品分析被带到一个全新的水平。
用户应该检查预期结构的不规则性和涂层，或者使用额外的AFM测量模式来识别在地形中不可见的特征。
NaniteAFM被认为是一种理想的质量控制工具，因为它易于使用和重现性。适用于半导体制造、生产工艺优化、精密工程等领域。
关键特性
NaniteAFM的主要特点包括:
- 用于系统集成的自动化批处理测量和脚本接口
- 快速和容易的交换和调整悬臂有助于减少停机时间
- 耐用紧凑的原子力显微镜，适用于大舞台和独立操作
应用程序
纳米afm显微镜有以下应用:
- 质量控制/产品开发
- 大面积缝合
- 串行或自动测量
- 集成到不同的分析系统