的PV Inspector NIR Camera来自Andor的产品为用户提供了卓越的速度和灵敏度性能，用于在线电和光致发光检测。它的1024 x 1024阵列提供了高分辨率的13µm像素，并得益于可忽略的暗电流，热电冷却至-70°C。
PV Inspector通过高达5mhz的快速读出速度提供了行业最高的吞吐量，具有创新的“双曝光环模式”，有助于快速曝光切换。安全的抗振动连接由可锁定的USB 2.0端口保证。
PV Inspector最新的高速模式和优化的近红外灵敏度使双重曝光EL检测速度超过每秒一个电池。这适用于非常高通量的PV检测系统，用于细胞分选机和线材。快速，双重曝光成像有助于定量测量细胞在明显的偏置水平。
关键特性
PV Inspector NIR Camera的主要特点如下:
- QE >在800 nm以上90%，近红外优化-优异的探测器灵敏度在近红外
- 5和3兆赫读取速度-用于高通量单元检测的快速帧速率
- 单层ar涂层窗口设计-近红外优化减反射涂层
- 边缘抑制技术™-在近红外中最大限度地减少标准隆效应，并提高光学分辨率
- 开启电源冷却—不需要PC连接即可保持稳定的热电制冷
- 双曝光环模式-特殊的曝光时间切换采集模式
- UltraVac™-保持真空完整性，并在一致的基础上保持卓越的冷却和QE性能
- 热电冷却至-70°C(风冷)-对消除暗电流检测极限至关重要
- 改进的基线夹-对动态测量的定量精度至关重要
- Andor Solis软件/ SDK (Linux SDK可用)-用户友好的Windows界面提供智能采集优化、自动化、系统集成和最新的数据操作设施
- 13 x 13 μ m像素大小-动态范围和分辨率的最佳平衡
- Halcon软件interface -兼容PV Inspector采集模式与这个特殊的图像处理库
- 双曝光周期时间女士- 500
- 接触开关时间——可以忽略不计
- 内置快门-高动态范围和16位数字化(可选)