这emxplus™是一款先进的Bruker EMX光谱仪，基于Bruker的创新EPR分析哲学。EMX已证明其在常规EPR研究中的卓越性能记录。
EMXPLUS™具有新的设计，旨在提供对样品的出色分析。通过在EMXPLUS™上切换，用户可以轻松执行EPR任务。
它是EPR应用的理想选择，其中CW-EPR谱的简单记录不足。它提供了许多2D操作模式，其中第二轴可以是时间，测角仪角，微波功率和温度。
主要特征
Bruker EMXPLUS EMX光谱仪的关键特性是：
- 24位中心场分辨率，提供小于1毫克的尾部
- 24位信号数字化
- 可以使用独立于转换时间检测单个增益设置的小型和大信号
- 从L波段升级到多频CW-EPR到Q波段
- 在该光谱仪类中首次CW-Endor
- 最高可达256,000点的现场扫描
- 磁场中的完全自由从100 mg扫到最大场
- 双通道，同时检测第一和第二次谐波（或0°和90°调制阶段）
- 使用Premiumx，达到2000：1（国际弱俯仰协议）的敏感性
- 配件范围和专用谐振器
应用程序
EMXPLUS™的主要应用是：
- 双检测CW-EPR光谱
- 高分辨率，分子氧EPR光谱