这遗址®III加从Micromeritics旨在使用经过验证的Sedigraph技术确定粒度，具有先进的仪器功能，提供卓越的精度，可重复性和再现性。
墓地®III加上X射线吸收直接测量质量，通过直接测量沉降速度来确定粒度。直接测量不需要建模。完整的粒子问责制确保所有引入的样本都被占了。Sedigraph®能够确定300至0.1μm之间的颗粒的等效球形直径。yabo214
将沉淀电池从底部扫描到顶部允许快速沉降颗粒的精确清单，同时减少分解细颗粒的分离所需的时间。yabo214温控分析确保在整个分析中保持液体性能恒定。用户可以选择适当的速度和分辨率组合，具有多种分析速度。实时显示允许用户监视当前分析的累积质量图，并在需要时立即进行程序更改。
Sedigraph®III加上具有耐用，高精度的X射线管，终身保修（七年）。多分析仪控制允许通过单个计算机同时操作两个Sedigaph®III，从而节省实验室空间并使数据存储方便。Windows®操作软件具有以太网连接，用于网络，点击选择，切割和粘贴，打印机选择等。高度灵活性和交互式的报告系统提供了许多自定义数据演示选项以及PHI单位的粒子稳定速度和晶粒尺寸。
Sedigaph®IIIPlus可用于受控实验室设置和恶劣的生产环境。它提供创新的仪表功能，以确保可以重复测量和易于执行。
主要特点和优点
墓地®III Plus包括：
- 高精度X射线管，带寿命保修（7年）
- 计算机控制的混合室温度可增强再现性和可重复性
- 操作是全自动的，因此提高样品吞吐量和减少操作员干预，从而最大限度地减少人为错误的机会
- 完整的粒子问责制可确保占所有引入的样本，包括低于0.1μm的馏分
- 简化泵送系统可确保快速且易于维护
- 更安静的工作环境的最小噪音水平
- 维护提醒提供了日常维护的警报
- 将数据与其他粒度尺寸的方法组合，从而将报告数据的范围扩展到125,000μm（125mm）
- 绘图覆盖提供了一种或多种分析的分析结果的视觉比较;例如，参考或基线分析或相同分析数据的两种不同类型的绘图的叠加
- 数据比较图提供了两个数据集之间的数学差异（与参考图的差异）的图形显示或高于或下方的数据点值的程度（从规格图中）
- 统计过程控制报告，用于跟踪流程的性能，从而允许即时反应波动
Micromeritics Sedigraph III加粒度分析仪