的QUANTAX Micro-XRF使用XTrace微光斑x射线源为扫描电镜增加了总微xrf谱仪的功能。用户受益于一个完整的微型XRF光谱仪和扫描电子显微镜(SEM)的能力，并通过这受益于微量元素灵敏度和XRF分析的更高的信息深度，以及SEM能量色散光谱(EDS)的轻元素检测能力。使用多毛细管x射线光学有助于在非常小的样品区域产生高荧光强度。x射线光学从大立体角收集管辐射，并将x射线集中在直径为35 μ m的点上，用于钼-钾辐射。
产生的x射线荧光光谱是用附带的XFlash®硅漂移探测器测量的，属于QUANTAX EDS系统。XFlash®SDD的使用提供了极好的能量分辨率，这是由探测器规格决定的。在金属分析中，使用30mm2有源面积探测器可获得约40kcps的计数率。
关键特性
quantum Micro-XRF光谱仪的主要功能包括:
- 样品可以用EDS和micro-XRF分析，而不需要改变位置
- 这两种测量方法都是在相同的分析软件套件ESPRIT中实现的，可以通过鼠标点击改变方法
- 它不干扰标准的SEM操作和EDS, XTrace可以保持在一个固定的位置适合大多数任务
- 分析结果可以与独立系统进行比较
- 图像平铺有助于绘制大面积区域
- 三个主辐射滤波器抑制衍射峰
- 使用SEM阶段，不需要单独的阶段
- 此外，通过扫描电镜平台旋转容易避免XRF光谱中的衍射峰
- 允许样品倾斜以产生最小的斑点尺寸
- 在一个界面下操作所有的分析工具
- 用鼠标点击切换方法
- 用不同的方法直接分析相同的样品位置
- 通过不同方法得到的分析结果易于组合
应用程序
XTrace大大提高了扫描电子显微镜中元素分析的通用性。它涵盖了材料分析(金属和催化剂)取证(油漆，玻璃和枪亚博网站下载击残留物)，地球科学和许多其他方面的应用。亚博老虎机网登录
应用包括
- 多层样品的表征
- 可靠的金属和合金识别
- 分析pcb上的元件和电路
- 聚合物中的金属和有害元素