采用细线技术的扫描电镜Bruker量子能谱仪

最新一代的QUANTAX编辑对于SEM,XFlash®6探测器系列具有从10到100 mm²的广泛活动区域和细线技术。

布鲁克的EDS探测器与改进的新型混合脉冲处理器相结合,在性能和功能上再次树立了标准。

第6代提供硬件和软件技术,以提供最快和最可靠的纳米研究成果。

主要特点

QUANTAX EDS for SEM的主要功能包括:

  • 省时-新的细线技术探测器、大面积SDD和高性能脉冲处理有助于更快地完成工作
  • 省力–探测器机动化探测器移动和轻重量设计使探测器操作更容易
  • 更高的能量分辨率为精确分析提供了最高质量的光谱
  • 更高的重复性-世界上最全面的原子数据库确保最可靠的低能峰识别
  • 更高的精度-最复杂的量化算法以及无标准和基于标准的方法的独特组合提供了最高精度的结果
  • 探测器尺寸范围广泛—10、30、60和100mm2有源面积探测器为微纳分析提供了理想的解决方案

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