下一代QUANTAX EDS来自Bruker的XFlash®6探测器结合了超薄技术和广泛的活性区域。Bruker的EDS探测器集成了增强型混合脉冲处理器,在功能和高性能方面树立了新的标杆。

用于TEM和STEM的XFlash®6T探测器为TEM和S/TEM提供最小的机械和电磁干扰以及最大的实心角度。它们提供了最佳的起飞角度,避免了样品倾斜的必要性。

关键特性

Bruker 's QUANTAX EDS for TEM/STEM的主要特点包括:

XFlash®6T | 30 -第一个用于像差校正TEM的SDD:

  • 适用于TEM分析,中等尺寸30mm²芯片

XFlash®6T | 60 -大实心角SDD Å-scale TEM分析:

  • 60 mm²活性区域探测器,用于低x射线产率条件下的分析

ESPRIT 2分析软件用于定性和定量分析,定量例程包括:

  • 无标准和基于标准的Cliff-Lorimer量化
  • 高精度的ζ因子量化

应用程序

Bruker的QUANTAX EDS用于TEM/STEM的主要应用包括:

  • 描述半导体结构
  • 生命科学EDS亚博老虎机网登录
  • 磁性纳米结构分析
  • 研究核壳粒子yabo214
  • 化学相分析
  • 化学特性
  • 原子列EDS
  • 单原子EDS

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