Bruker公司的NPFLEX™3D表面测量系统为精密制造业提供了高灵活性、测量能力和卓越的性能，确保了快速的提升时间、卓越的产品质量和提高的生产率。
NPFLEX是数十年来在大样本仪器设计和白光干涉(WLI)技术方面的专有技术的结果。
NPFLEX是第一个光学计量系统，旨在方便地处理不同形状和尺寸的样品的纳米到宏观特性。
它提供了3D、丰富的数据、出色的分辨率和一致性，超出了接触仪表的可能，所有这些都提供了对功能和部件性能的出色洞察。
关键特性
NPFLEX的主要特点是:
- 开放访问的样品加载，非接触技术，和直观的分析软件，以表征表面纹理，光洁度，粗糙度，曲率，坡度和其他几个特征亚微米分辨率
- 为制造环境开发的坚固、高性能平台
- 高度可配置的硬件和软件，以满足几乎任何样品形状或尺寸的测量需求
- 完全可定制的应用程序和自动化程序的速度在生产线上
- NPFLEX系统为表面表征提供了最全面的计量平台，在样品尺寸、进入样品区域和测量环境方面提供了极大的灵活性。
关键应用程序
NPFLEX系统的应用包括:
- 过程开发
- 生产
- 质量分析
- 产品研发
- 石油运输与炼制
- 汽车和航空航天
- 医疗
- 主要金属制造
- 金属制品
- 其他制造业