NT-MDT的NTEGRA光谱集成了共焦拉曼和荧光显微镜的完整功率，扫描近场光学显微镜，原子力显微镜在一个单一的仪器。由于尖端增强拉曼散射，NTEGRA光谱有助于执行光谱和显微镜高达10纳米分辨率。
NTEGRA光谱支持大多数现有的AFM模式，以纳米尺度分辨率提供有关样品物理性质的完整信息。同时，AFM、拉曼和共聚焦荧光测量提供了样品的晶体结构和取向、化学组成、大分子构象、杂质和缺陷的存在等信息。
配备了新的电子设备和软件，NTEGRA光谱集成了新型混合模式™纳米力学特性，以及拉曼技术，在单个测量过程中精确地对相同区域进行化学成像。
关键特性
- 同时进行AFM和共焦拉曼/荧光成像
- 支持当前大多数AFM模式
- 分子尺度上的显微镜和光谱学
- 混合™模式
- 测量可以通过倒立或直立光激发几何来进行
- 超出衍射极限的光学性质的检查
- 三维光谱分布可以在空间分辨率达到理论极限的情况下进行检测
应用程序
- 聚合物
- 化学反应控制
- 半导体器件
- 纳米线、量子点、纳米管等纳米级材料亚博网站下载
- 碳纳米管、石墨烯和其他碳材料亚博网站下载
- 光学器件特性:光纤，电浆子器件，半导体激光器和波导
- 对DNA、病毒、细胞组织和其他生物对象的研究