Bruker的维度图标AFM集成了该公司的行业领先的纳米级成像和表征技术的最新进步，在大型样本尖端扫描AFM平台上。
Icon AFM的温度补偿位置传感器渲染X-Y轴的埃范围和z轴的亚埃范围的噪声水平。这种性能水平定义了最新一代的原子力显微镜应该是什么。
终极性能
- 无失真的图像以每分钟200 pm以下的漂移率即时呈现
- 在小于30μm的噪声底板上显着降低，允许在子纳米分辨率下成像
- 专有的传感器设计提供了闭环性能，并且具有以前AFM无法达到的噪声水平
增强纳米级自动化
Automet™软件仅来自Bruker，允许使用快速自动计量的高分辨率AFM成像组合。它提供了适应性和优异的易用性，用于在大容量测量应用中执行关键质量测量。
AutoMET™软件具有简单直观的菜谱编写环境，使其非常简单，可将困难的测量例程简化为简单的按钮操作。
非凡的生产力
- 纳米镜®软件和ScanAsyst®配备了默认实验模式的成像将多年的知识提取到预先配置的设置中
- 内置对齐工具允许探头优化和快速定位
- X-Y定位和高分辨率摄像头提供了更快、更有效的样品导航
下载：重新定义AFM性能和生产力
优越的多功能性
- 自定义用户可编程脚本启用半自动分析和测量
- 样品和尖端的广泛开放的访问，适应广泛的定制和标准的实验
- 软件和仪器的设计，以利用所有现有和未来的AFM技术和模式从布鲁克
- PeakForce sMIM™能够实现高灵敏度和全面的电导率和介电常数纳米级映射
直观的图形用户界面立即访问八个通道和广泛的控制器功能。图像数据（左）显示三嵌段共聚物的形貌，具有5kx5k数据。图像信用：布鲁克纳米表面
应用程序
材料映射
Icon AFM支持专利PeakForce QNM®布鲁克的成像模式，允许科学家定量地绘制和区分纳米力学特征，同时以高分辨率成像样品的地形。
该技术的工作范围非常广(黏附系数为10 pN至10 μN，模量为1 MPa至50 GPA)，可以表征许多不同类型的样品。
图像信用：布鲁克纳米表面
电气特性
专利模式使电特性在纳米尺度具有更大的动态范围和灵敏度。这些研究可以与其他方法相结合，如Dark Lift，在扫描扩散电阻显微镜(SSRM)、扫描电容显微镜(SCM)、隧道AFM(金枪鱼)和扭转共振金枪鱼中获得无伪影结果。
图像信用：布鲁克纳米表面
纳米操作
光刻和操作可以在分子和纳米尺度上进行。Icon AFM的XYZ闭环扫描仪提供了精确的探头定位，没有任何压电蠕变。它还提供非常低的噪音，以最佳定位任何纳米操作系统。
图像信用：布鲁克纳米表面
加热和冷却
在不同的AFM模式下扫描时，可以对样品进行−35°C至250°C的热分析和温度控制。或者，热探针可以用于进行低于100 nm的局部加热，最高可达400°C。
图像信用：布鲁克纳米表面