NANOSTAR具有良好的模块性，是用SAXS、GI-SAXS和Nanography表征1 ~ 125 nm纳米结构和纳米结构表面的合适工具。镜面条件下的针孔准直系统提供了越来越强的平行x射线束，以实现较短的测量时间。
准直系统保持了理想的圆形光束形状，在消除背景噪声方面非常有效，能够分析非常弱的散射样品和大型结构。
即使是非各向同性样品系统，NANOSTAR也能分析纯样品的性质。模块化设计有助于设置探测器到样品的距离从11.5毫米到1070毫米。因此，结合成像板(IP)选项，可以同时覆盖从SAXS到WAXS的整个范围。
关键特性
布鲁克的NANOSTAR的主要特点是:
- 模块化设置具有极佳的灵活性
- 明亮的x射线源:IµS, TXS和METALJET
- VÅNTEC-2000，大型二维探测器，具有真正的光子计数能力
- 可变的样品到检测器的距离，覆盖宽的q范围
- MONTEL光学与交换针孔准直系统高通量/高分辨率
- 低背景准直系统使用传统的三针孔或新的SCATEX双针孔设置
- 大的样品室，可容纳各种样品支架