X-Strata920 Microspot XRF分析仪

基于x射线荧光(XRF)的涂层厚度测量是一种经过工业验证的技术，提供快速和无损分析。的X-Strata920用于测量电子和金属加工行业的单层和多层涂层，包括合金层。

我们的内部应用专家优化了X-Strata920，以确保您获得可靠的，可重复的结果，数百种应用，包括PCB表面饰面，连接器涂层，耐腐蚀，装饰饰面，耐磨性，耐高温等。在每密尔或微米计数的地方，X-Strata920为您提供所需的精度和可靠的结果。

X-Strata920提供了约800个预加载的、易于选择的应用参数/方法。该光谱仪对几种元素都有很高的性能。利用二次光束滤波器可以实现重叠参数的光谱分离。

在没有校准标准的情况下，基本参数(FP)方法可提供可靠的定量结果。使用几个标准，最好的结果和精度是通过经验校准。自动热补偿可以测量仪器的温度和修正变化，从而提供稳定的结果。简单和快速的光谱校准可以检查仪器的性能，并进行所需的校正。为了满足分析需求，X-Strata920有三个配置选项:标准底座、可编程底座和迷你井底座。它具有自动锁定功能，有助于防止未经授权使用仪器。

应用程序

X-Strata920的应用包括:

• 执行固体和解决方案分析
• 非破坏性分析
• 定性、半定量、全定量分析
• 最少或不需要样品准备
• 使用X-Strata920只需要最低限度的训练
• 可以测定多种元素
• 以秒为单位提供结果
• 为了提高安全性和质量，建立消费者信心，促进市场准入和贸易，标准的测试方法、指南和规范在国际上使用。X-Strata920符合ISO 3497:金属涂层，通过x射线光谱法测量涂层厚度。同样，它也符合ASTM B568:用x射线光谱测量涂层厚度的标准测试方法。