Phenom Prox桌面SEM是最终的一体化成像和X射线分析系统。通过Prox，可以物理检查样品结构，并测定它们的元素组成。
可选的元素映射和线路扫描软件允许进一步分析元素的分布。包含专用软件包并安装在Pro Suite PC上以控制完全集成的EDS检测器。
分析变得像成像一样简单，因为不需要在外部软件包或计算机之间切换。EDS-Techne从与样品相互作用的电子束分析由电子产生的电子产生的X射线。Phenom CEB6电子源在其市场段中产生最高数量的X射线。元素识别软件包允许用户通过Spotmode分析识别样本内的任何隐藏元素。
所有结果都是使用迭代峰剥离去卷积验证的。软件内的逐步引导过程有助于用户以有组织和结构化的方式收集所有X射线导致。可选地，可以使用元素映射和线路扫描选项扩展该软件。
客户推荐
在现场有一个Phenom Sem一直是一个巨大的节省时间......没有Phenom Prox SEM，我们无法开发我们最新的
改进的过程。
Peter Guercio.
石墨加工服务与创新总裁，PLC
主要规格
- 一个系统，所有答案
- 放大范围20 - 100,000x
- 元素检测范围：C - AM
- 长寿高亮度源（CEB6.）
- 多加速电压：高分辨率图像的5 kV和10 kV，以及15 kV的伟大分析结果
- 电子束电流选择，用于调整成像设置或高吞吐量分析
- 永远不会失去导航：向任何兴趣区域的迅速导航
- 可用软件可用：元素映射和线路扫描
下载完整的客户推荐