电子材料和设备的可靠性和故障亚博网站下载
本书适用于可靠性专业人员的参考工作，或作为高级本科生或研究生的文本，将读者介绍给微观和电子式设备的广泛分散的可靠性文献。电子材料和设备的可靠性和失败整合了用于解释降解的原子机制和模型的背景下的芯片亚博网站下载和包装水平失败的处理，以及对终生数据的统计处理。
电气移民，介电辐射损伤以及触点和焊接接头的机械故障是故障机制之一。这本书的基本线程涉及产品缺陷 - 他们与产量和可靠性，他们在失败中所起的作用以及实验暴露的方式的关系。读者将对电子材料和设备中的故障机制有更深入的物理理解，在可靠性数据的数学处理方面获得技能，并更好地理解未来的技术趋势及其提出的可靠性问题。亚博网站下载
主要特征
- 讨论芯片和包装水平上的可靠性和失败
- 处理缺陷在产量和可靠性中的作用
- 包括有关可靠性数学的教程章节
- 侧重于电迁移，介电击穿，热电子效应，静电放电，腐蚀，辐射损伤以及包装，触点和焊接接头的机械故障
- 考虑缺陷检测方法和故障分析技术