电子材料与器件的可靠性与失效亚博网站下载
适合作为可靠性专业人员的参考工作或作为高级本科或研究生的文本，本书将读者介绍了微电子和电子可选设备的广泛分散的可靠性文献。电子材料和设备的可靠性和失效集成了用于解释降级的原子机制和模型的芯片和包装级亚博网站下载别故障的处理，以及用于解释劣化的模型以及终身数据的统计处理。
电迁移，介电辐射损坏和触点的机械故障和焊点是考虑的故障机制之一。本书的潜在线程涉及产品缺陷 - 它们与屈服和可靠性的关系，他们在失败中发挥的作用，以及它们在实验暴露的方式。读者将获得对电子材料和设备中的故障机制的更深层次的理解，获得可靠性数据的数学处理中的技能，更好地欣赏未来的技术趋势和他们提高的可靠性问题。亚博网站下载
主要特点
- 讨论芯片和包装级别的可靠性和故障
- 处理缺陷的作用和可靠性
- 包括关于可靠性数学的教程章节
- 专注于电迁移，介电击穿，热电子效应，静电放电，腐蚀，辐射损坏以及封装，触点和焊点的机械故障
- 考虑缺陷检测方法和故障分析技术