扫描探针显微镜

扫描探针显微镜使纳米级的电气和机电表征的知识库不断增长。这项全面的两卷集列出了先进的扫描探针显微镜（SPM）技术的实用和理论问题，从基本物理研究到设备表征，失败分析和纳米造型。第1卷的重点是SPM方法的技术方面，从扫描隧道电位计量学到电化学SPM，并探讨了SPM成像机制基础的基本物理现象。第2卷集中于SPM表征广泛的材料的实际方面，包括半导体，铁电，电介质，聚合物，聚合物，碳纳米管和生物分子，以及基于SPM的纳米化和纳米构造方法。亚博网站下载

写为：
来自物理，化学，生物学，工程，材料科学和生物技术等多样学科的学术和工业科学家和工程师，他们使用或希望在研究和开发中使用扫描探针方法。亚博网站下载亚博老虎机网登录这些章节还将对这些领域的高级本科生和研究生有价值。

目录
SPM电气表征技术。- 扫描隧道显微镜和隧道电位测量法。- 扩展的扩散电阻显微镜和扫描电位测量法。- 扫描电容显微镜和纳米抑制显微镜。- 扫描门显微镜。- 基于Force的SPM传输测量：KPFM，EFM和SIM。- Piezoresponse力显微镜。- 脱心力显微镜。- 微波显微镜。- 近磁场光学显微镜。 -Electrochemical STM. -Advanced SPM Probes for Electrical Characterization. -Electrical and electromechanical imaging at the limits of resolution. -Surface Metal Insulator Transitions. -Spin polarized STM. -STM probing of molecular transport. -Kelvin Probe Force Microscopy of atomic systems. -Single-electron transport in 1D systems. -Theoretical aspects of electrical transport imaging in molecular systems. -Friction on the atomic scale. -Mechanics on the molecular scale. -Electrical SPM characterization of materials and devices. -SPM transport in semiconductors. -SCM and KPFM of semiconductor heterostructures. -SPM characterization of Ferroelectric Materials. -SCM of operational devices. -Photoinduced phenomena in semiconductor heterostructures. -SPM characterization of III-nitrides materials. -Advanced semiconductor metrology by SPM. -Transport in organic electronics. -Electrical nanofabrication. -Direct Nanooxidation. -Ferroelectric Lithography. -Resist-based SPM oxidation techniques. -Charge deposition lithography. -Electrochemical surafecSurface Modification.