介绍如果3N4本质上是强大的,因为如果和N之间的共价化学键。有两个同构的Si形式3N4,也就是说,α如果3N4和β-Si3N4[1],一个包含罪恶的晶体结构4四面体形成corner-shared三维网络的特点(001)平面六角结构。飞机不同的叠加α和β结构,ABCDα如果3N4并在β-Si AB或CD3N4[1]。 β-Si3N4陶瓷目前在工程应用中使用。α如果3N4陶瓷是不稳定,转换为稳定的β-Si3N4在高温下。此外,棒状β-Si3N4谷物、粘合在一起,相互促进形成通过玻璃通过烧结阶段作为第二阶段。这使得β-Si3N4难以断裂[2]。因此,β-Si3N4陶瓷一直强烈支持相比α如果3N4。研究处理,β-Si的微观结构和力学性能3N4陶瓷一直积极开展二十多年。近年来,研究提高断裂韧性和强度通过自我强化的概念并引入nm-sizedβ-Si3N4已经收到越来越多的关注。非常高的强度(大于1.5 MPa)陶瓷(3、4),高断裂韧性(超过10 MPam0.5)陶瓷[5]和高断裂韧性高强度陶瓷[6]开发了通过控制大小,形状和定位杆像β-Si3N4谷物。 β-Si的热导率是一个重要的物理性质3N4陶瓷,并确定组件的可靠性和性能在许多工业应用中,由于热导率强烈影响散热的速度。对于汽车发动机,低导热系数为隔热组件需要减少燃料消耗,而高导电性需要冷却组件具有良好的抗热震性能。在这次审查中,我们总结了β-Si的热导率的结果3N4陶瓷在不同条件下获得的。 固有的热导率进行了广泛的调查和评价high-thermal-conductivity非金属固体在1960年至1985年之间,并系统地总结了松弛等。[7]。导热系数的测量表明,自然和人造金刚石,立方BN,原文如此,同天,BP、AlN和Si high-thermal-conductive固体的值大于100 Wm1K1在室温下。其中,许多研究电导率钻石和正在积极开展。杂质如钻石的氮原子和氧原子在其热导率有显著影响。之间的关系实验热导率和杂质浓度的高纯度非金属固体表明内在钻石的热导率在室温和2000和319 Wm1K1分别为(见表1)[7,8]。另一方面,内在价值对于原文如此,同天,BP和Si估计这些单一的导电率的温度依赖性的水晶和陶瓷,据报道,490年,370年、360年和156年Wm1K1分别[7]。 内在的导热系数(κ内在非金属固体的温度范围T≥θD,在那里θD是德拜温度,可以由以下方程描述[8]: κ内在= BMδθD3/ (Tγ2)(1) 在哪里B是一个常数,米原子在晶体的平均质量,δ3的平均体积被一个原子晶体,T绝对温度和γ格吕奈森的常数[7]。松弛发现之间的比例关系的内在电导率非金属固体杂质浓度和价值的计算MδθD3在300 K,并预言内在价值在室温BN和氮化镓的760和130 Wm1K1分别[7]。表1显示的值κ内在,θD,米,δ、γ和MδθD3high-thermal-conductive固体。结果表明,材料更高的德拜温度,较低的原子质量,和一个更亚博网站下载简单的晶体结构有较高的固有热导率[7]。 有趣的是比较的值θD,米,δ和γhigh-thermal-conductivity非金属固体和Si3N4。β-Si的值3N4是θD= 1100 k [10],米= 20.0克,δ= 0.218 nm [11]γ= 0.72[11],如表1所示。这些值几乎相等的SiC:θD= 1080 K,米= 20.1克,δ= 0.218 nm和γ= 0.76 [7],AlN:θD= 950 K,米= 20.5克,δ= 0.218 nm和γ= 0.77 [8]。结果意味着β-Si3N4满足的条件高的热导率。 Watari等人估计β-Si的内在导电率的上限3N4通过使用内在导电率之间的比例关系和Mδθ的价值D3400 Wm1K1在室温下[12]。自己和快脚强调,原文如此,β-Si3N4几乎是相同的,除了原子的数目(n)在每一个原始细胞,和报道,预测~ 200 Wm是内在价值1K1为n= 14 ~ 320 Wm1K1为n= 7 [13]。β-Si的导热系数的测量3N4谷物表示值180 Wm1K1在室温下[14]。 T对应的电导率Si的数据3N4陶瓷密度的影响和β-phase内容有许多报道的导热系数β如果3N4自1976年以来,陶瓷[15-28]。代表数据表2总结了室温值。不同的电导率的温度依赖性β如果3N4陶瓷[28]10日,16日,24日也如图1所示。
图1所示。不同的电导率的温度依赖性β如果3N4陶瓷 在室温下的值在10 - 162 Wm1K1的范围内。室温电导率和温度依赖性的电导率明显受到体积密度的影响,β-phase内容和工艺参数。图2显示了在室温下导电率之间的关系和相对密度不同β如果3N4陶瓷。
图2。室温电导率之间的关系和相对密度不同β如果3N4陶瓷 从获得的数据引用(16、19、22)。电导率的相对密度增加标本的增加,然而在15到120 Wm1K1完全取决于类型的烧结辅助强化样本。β-phase内容也会影响烧结材料的电导率,如图3所示。亚博网站下载
图3。Si的导热系数3N4陶瓷作为β-Si的函数3N4内容。β-Si的数量3N4,β-Si3N4/ (α如果3N4+β-Si3N4),通过比较计算x射线衍射峰α如果3N4(210),(201) 虽然导电性增加随着β-phase内容的增加,电导率的变化强烈影响烧结援助的类型。相对密度的变化和β-phase烧结材料的内容将工艺参数的差异。亚博网站下载在下一节中,工艺参数对β-Si的电导率的影响3N4陶瓷进行了总结。 表1。内在的导热系数的值(κ内在)、德拜温度(θD),平均质量(米),平均体积被一个原子(δ3)、格吕奈森常数(γ),米δθD3high-thermal-conductivity非金属材料亚博网站下载。从引用(7 - 11)获得的数据。
|
钻石 |
2000年 |
2240年 |
12.0 |
0.178 |
1.3 |
23.8 |
BN |
760年 |
1900年 |
12.4 |
0.181 |
|
15.4 |
原文如此 |
490年 |
1080年 |
20.1 |
0.218 |
0.76 |
5.5 |
同天 |
370年 |
1280年 |
12.5 |
0.190 |
|
5.0 |
英国石油公司 |
360年 |
985年 |
20.9 |
0.227 |
|
4.5 |
AlN |
319年 |
950年 |
20.5 |
0.218 |
0.77 |
3.8 |
如果 |
156年 |
648年 |
28.1 |
0.271 |
|
2.0 |
氮化镓 |
130年 |
600年 |
41.9 |
0.225 |
|
2.0 |
差距 |
105年 |
444年 |
50.3 |
0.272 |
|
1.2 |
β-Si3N4 |
~ 023 |
1100年 |
20.0 |
0.218 |
0.72 |
5.8 |
表2:数据在室温导热β-Si代表3N4陶瓷。
|
1981年 |
Tsukuma et al。 |
高压烧结 |
α如果3N4 |
没有 |
1900年°C, 1 h、3 GPa |
30. |
[16] |
|
|
高压烧结 |
α如果3N4 |
4质量%分别 |
1900年°C, 1 h、3 GPa |
29日 |
[16] |
1983年 |
Hayashi et al。 |
reaction-bond烧结 |
如果 |
没有 |
1750 K, 1 h, 0.1 MPa, N2 |
17 |
[18] |
1989年 |
Watari et al。 |
capsule-HIPing |
α如果3N4 |
6摩尔%艾尔2O3 |
1750年°1 C, h, 60 MPa |
18 |
[19] |
|
|
capsule-HIPing |
α如果3N4 |
3 mol %艾尔2O3+ 3 mol % Y2O3 |
1750年°1 C, h, 60 MPa |
27 |
[19] |
|
|
capsule-HIPing |
α如果3N4 |
6摩尔% Y2O3 |
1750年°1 C, h, 60 MPa |
72年 |
[19] |
1992年 |
李等人。 |
气压烧结 |
α如果3N4 |
Y2O3 |
1900年°1 C, h, 100 MPa, N2 |
80年 |
[20] |
1996年 |
不管等。 |
气压烧结 |
α如果3N4 |
0.5 mol % Y2O3+ 0.5 mol %2O3 |
2000年°C, 100 MPa, N2 |
78年 |
[21] |
|
|
气压烧结 |
β-Si3N4 |
4摩尔% Y2O3+ 4摩尔%2O3 |
2000年°4 C, h,100 MPa, N2 |
40 |
[21] |
|
|
气压烧结 |
β-Si3N4 |
0.5 mol % Y2O3+ 0.5 mol % Nd2O3 |
2000年°4 C, h, 100 MPa, N2 |
120年 |
[21] |
|
|
气压烧结 |
β-Si3N4 |
4摩尔% Y2O3+ 4摩尔% Nd2O3 |
2000年°4 C, h, 100 MPa, N2 |
90年 |
[21] |
1996年 |
Hirano et al。 |
tape-casting +热压 |
α如果3N4+β-Si3N4种子 |
5质量% Y2O3 |
1800年°2 C, h, 0.9 MPa, N2 |
tape-casting direction75堆积direction40 |
[23] |
|
|
以上过程+退火 |
α如果3N4+β-Si3N4种子 |
5质量% Y2O3 |
1850年°66 C, h, 0.9 MPa, N2 |
tape-casting方向120,叠加方向60 |
[23] |
1999年 |
Watari et al。 |
tape-casting +臀部 |
α如果3N4+β如果3N4种子 |
5质量% Y2O3 |
2500年°2 C, h, 200 MPa, N2 |
tape-casting方向155年52叠加方向 |
[24] |
1999年 |
Watari et al。 |
热压 |
β-Si3N4 |
3.5质量% Y2O3 |
1800年°4 C, h,0.9 MPa, N2 |
热压轴/ / 78,热压轴⊥93年 |
[25] |
|
|
以上过程+臀部 |
β-Si3N4 |
3.5质量% Y2O3 |
2400年°2 C, h, 200 MPa, N2 |
热压轴/ / 80年 热压轴⊥102年 |
[25] |
1999年 |
不管等。 |
气压烧结 |
β-Si3N4 |
1.2质量% Nd2O3+ 0.8质量% Y2O3+ 0.1质量%分别 |
1900年°4 C, h, 100 MPa, N2 |
77年 |
[26] |
|
|
气压烧结 |
β-Si3N4+β-Si3N4种子 |
1.2质量% Nd2O3+ 0.8质量% Y2O3+ 0.1质量%分别 |
1900年°C, 100 MPa, N2 |
106年 |
[26] |
1999年 |
Akimune et al。 |
挤压+臀部 |
α如果3N4+β-Si3N4种子 |
0.5 mol % Y2O3+ 0.5 mol %2O3 |
2200年°C, 200 MPa, N2 |
挤压方向/ /162年,挤压方向⊥85年 |
[27] |
标本reaction-bond烧结获得的相对密度为85%,而其他标本达到全致密化。的β-phase内容的所有标本是100年%。 影响烧结技术烧结技术,如reaction-bond烧结[18],高压烧结[16],capsuled-HIPing(10、19),气压烧结[20],和超高温度臀部[24]曾获得β-Si3N4陶瓷。Reaction-bond烧结,金属硅反应与N2或NH3形成硅3N4,是一个具有成本效益的方法。然而,在这种情况下,强化材料是很难获得,相对密度通常是不到85% 亚博网站下载[18]。出于这个原因,reaction-bond烧结Si的电导率3N4只有17岁Wm1K1,远远低于其他方法获得的标本的[18]。高压烧结,标本触发下一立方砧装置的机械压力高,可以产生完全强化β-Si3N4有和没有烧结艾滋病。Tsukuma等人已经成功地产生了一种密集β-Si3N4通过高压烧结没有烧结在1900°C下3 GPa艾滋病。在室温下的电导率是30 Wm1K1,几乎是等于一个高压烧结材料,分别以[16]。 Capsuled-HIP过程是一个产生强化陶瓷的方法装入胶囊一个绿色的身体在一个玻璃容器,紧随其后的是发射的高气体压力下以相对较低的烧结温度大于50 MPa相比其他烧结技术。 密集β-Si的室温电导率3N4通过在1750°C capsuled-HIPing 1 h 18 Wm1K16摩尔%2O3另外,和72 Wm1K16摩尔% Y2O3[19]。 气压烧结,高N2压力允许更高的燃烧温度没有如果的热分解3N4,此外,高形成的大型杆像谷物[29]。这个好处发展高导热系数。气压烧结β-Si3N4值80 Wm1K1成功的发射在1900°C李et al。[20]。不管等人获得了β-Si3N4陶瓷的重要价值120 Wm1K1气压烧结在2000°C 4 h Y掺杂物为0.5摩尔%2O3和0.5 mol % Nd2O3(21、22)。 超高温度臀部的发射过程由温度高于2000°C下气体压力高于100 MPa。Watari等人产生了β-Si3N4陶瓷髋部在2400°C下2 h N2气体压力的200 MPa,报道,107 Wm试样的电导率1K1在室温(28、30)。这种材料的电导率在4到1100 K[28]也呈现在图1。的高导电性在室温下155 Wm1K1是通过臀部tape-castedβ-Si吗3N4在2500°C N2气体压力200 MPa,沿着tape-casting方向[24]。 效果年代的烧结援助类型和数量的艾滋病强烈影响烧结致密化和Si的导热系数3N4。它已经被普遍接受,艾滋病与二氧化硅表面硅反应3N4粒yabo214子形成共晶液相烧结过程中,促进了致密化。然而最近,它已经表明,硅的表面3N4不包括石英阶段[31-35]。比简单的SiO反应可能是更复杂的2涉及到一个。因为毛孔烧结体内的存在大大降低了热导率如图2所示,毛孔清除和致密化是很重要的。许多研究已经找到执行一个适当的援助,和单一的艾尔2O3分别,Y2O3和稀土氧化物,并发添加这些烧结添加剂已报告是有用的如果3N4[36]。 β-的热导率如果3N4各种烧结艾滋病等Y2O3,艾尔2O3,分别以和Nd2O3如表2所示。对于单身的Y2O3、高的热导率总是获得。的室温电导率是72 Wm-1K-1 capsuled-HIPing 6摩尔%Y2O3除了[19],107 Wm-1K-1超高温度臀部3.5质量%Y2O3除了(28、30)。非常高的电导率,155 Wm-1K-1 tape-casting方向,得到变形β- - - - - -如果3N4与Y2O3[24]。另一方面,的导电性β- - - - - -如果3N4陶瓷是29 Wm-1K-1分别添加[16]和18 Wm-1K-1艾尔2O3[19]。 几个报告并发增加的影响也已出版。Watari等人寻求援助的影响比电导率的capsuled-HIPed标本固定数量的Y2O3和艾尔2O3添加剂,发现增加的电导率下降艾尔2O3内容[19],如图4所示。援助总额的影响进行调查的内容不管et al . [22]。使用他们的结果,数据重组给烧结艾滋病和烧结温度的影响如图5所示。电导率是影响艾滋病的总量,以及电导率最高总额时实现Y2O3nd2O3和Y2O3状态”2O3系统是1摩尔% [22]。
|
图4。capsuled-HIPed Si的导热系数3N4陶瓷与添加剂(Y2O3/铝2O3)摩尔分数。Y的总量2O3状态”2O3添加剂是6摩尔%。烧结时间1 h。气体压力是60 MPa。低导热系数的标本6摩尔% Y2O3添加剂发射在1600°C是归因于低密度。 |
导电率的温度依赖性的多种模式根据添加剂的类型(图观察保证1)。强烈依赖于温度是单一的发现Y2O310日,24日,28日。弱的温度依赖性是观察单一的采用[16]或基地2O3[10],并发添加的Y2O3- - - - - -艾尔2O3[10],没有任何添加[16]。 烧结温度的影响电导率和烧结温度之间的关系也在图4和图5所示。至于单身的Y2O3(见图4)和并发的Y2O3和Nd2O3(参见图5 (a)),显著增加的电导率随着温度显示。另一方面,在的情况下Y2O3- - - - - -艾尔2O3添加剂、烧成温度依赖的电导率是影响很大数量的添加剂。导电率的温度依赖性强,使用少量的添加剂时,大量的添加剂使用时不显著。
图5。援助总额的影响内容和烧成温度β-Si的导热系数3N4陶瓷。1700年4 h的标本被解雇°C和1800°在1 MPa N C2气体,在1900°在10 MPa C N2气体,享年2000岁°在100 MPa N C2气体。的比例添加剂(Y2O3:Nd2O3和Y2O3:半岛2O3在摩尔)是1:1。 质量原始粉末的生粉的类型也会影响电导率。检测到杂质原始粉末的氧、碳、铁、钙、铝、氟和氯(37、38)。原始粉末的氧浓度通常相当于0.5 - 3质量%。β-Si Watari等人首先报道3N4亚博网站下载材料从原料获得α如果3N4粉末氧含量较低的高导电性[10]。碳杂质在原始粉末和烧结的标本应该也考虑在内,因为浓度通常从100年到10000 ppm(质量)。关于碳杂质的影响研究表明,碳含量的几千ppm结果轻微下降的导率大约3 Wm1K1[39]。商用生粉总是含有金属杂质,但是金属和金属氧化物杂质的影响电导率还没有被调查。
图6。β-Si的热导率和平均粒径之间的关系3N4陶瓷。所有的样品都完全密实。晶粒尺寸的变化是由退火在不同烧结温度下高N2200 MPa的气体压力。平均粒径是决定抛光的照片和蚀刻表面使用线性截距法。 效果晶粒取向的年代自从β-Si3N4粮食有内在联形状,各向异性的微观结构是烧结β-Si发达3N4通过选定的形成过程(6,24日27)。图7 (a)和(b)的微观结构无向面向[28]和[24]β-Si3N4分别陶瓷。图7 (a)的样本获得的臀部在2500°C,和图7 (b)的样品是通过与β-Si tape-casting生产3N4单晶颗粒作为种子,随后髋关节在2yabo214500°C。无向标本的微观结构由大型细长颗粒直径~ 8μm和~ 60μm长,和小颗粒的大小~ 3μm。这种材料的导电率是110 Wm1K1在室温下[28]。tape-casted和臀部标本展览一个高度各向异性的微观结构与超大细长粒~ 10μm直径和长~ 100μm高度面向tape-casting方向,和小颗粒位于非常大的颗粒之间的空隙。
图7。抛光表面的微观结构(a)超高温度臀部标本质量% 3.5 Y2O3添加剂,(b) tape-casted和超高温度臀部标本5质量% Y2O3添加剂和5卷%β-Si3N4单晶颗粒。yabo214标本被在2500°C下2 h N2200 MPa的气体压力。超高温度臀部标本的抛光表面化学蚀刻,和tape-casted plasma-etched超高温度臀部标本。超高的热导率在室温温度臀部标本是110 Wm1K1的热导率tape-casted和超高温度臀部标本155和52 Wm1K1分别在tape-casting sheet-stacking方向。 tape-casted和臀部标本的导率是不同的根据铸造方向,155和52 Wm1K1分别在tape-casting sheet-stacking方向[24]。 与种子颗粒挤压也产生了高度各向异性的微观结yabo214构和各向异性导率。Akimune等人伪造一个挤压和烧结β-Si3N4导率的162和85 Wm1K1分别在纵向和横向挤压方向[27]。晶粒取向对电导率的影响应该彻底调查。 非凡的因素增加导热系数标本体积密度高、β步的内容,大谷物和强烈的各向异性的微观结构有很高的热导率如上所述。非凡的因素总结了提高电导率的工艺参数和热导率之间的关系β如果3N4陶瓷,如图8所示。对于无向Si3N4亚博网站下载材料的热导率高达80 Wm1K1在室温条件下完全致密化和相变α来β与Y2O3(19、20)。进一步增加的电导率是通过异常晶粒生长,和它的电导率达到一个值120 Wm1K1(28日,21日,22日,30)。形成和定位非常大β谷物是相当有效的增加电导率。高度面向β如果3N4陶瓷呈现高的热导率155到162 Wm1K1在一定方向(24日27)。因此,高导热系数是致密化的重要因素,相变,Y的兴奋剂2O3,经济增长以及对齐的β如果3N4谷物。
图8。非凡的因素所示横坐标,增加硅的热导率3N4陶瓷。 热导率数据β的如果3N4谷物因为它很难合成β-Si足够大3N4单晶常规热导电测量,李等人使用thermoreflectanceβ-Si显微镜测量热导率3N4单晶,细长的谷物(平均直径:17μm长度:100μm)陶瓷材料[14]。热反射计是一种技术,它依赖于当地的反射系数的变化与温度变化在激烈的样本[40]。测量结果表明,热流沿着β-Si c-axis更有意义3N4谷物,这意味着热颗粒的各向异性。校长获得的热扩散系数分别为0.84和0.32厘米2年代1分别沿c-axis和轴。相应的热导率,β-Si密度和比热的计算3N4和实验热扩散率,180年和69年Wm1K1分别沿c -和轴[14]。 热传导机制啊fβsi3N4陶瓷重要的是讨论重要因素控制电导率。图9显示可能的β-Si热传导模型3N4陶瓷,当晶界数量和缺陷密度在谷物是多种多样的。与大量的陶瓷玻璃相,热导率是由玻璃相的体积(我),因为SiO的导热系数2的玻璃晶界相很低(1 Wm1K1)。包含少量的晶界相的陶瓷和谷物用很少的晶体缺陷,热导率是由声子-晶界散射(例2)。另一方面,含有少量的玻璃陶瓷阶段和谷物与大量的晶体缺陷,其导热系数影响很大是因为数量的晶体缺陷(III)。常规β-Si晶界相的数量3N4陶瓷小于10卷%[25],建议尽可能的情况下II和III传统Si的热传导模型3N4陶瓷。
|
大量的晶界 |
大 |
小 |
小 |
晶体缺陷密度 |
- - - - - - |
非常低的 |
高 |
微观结构 |
|
|
|
控制因素 |
晶界的阶段 |
粒度(数量的两个grain-grain结) |
类型和数量的晶体缺陷在谷物 |
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图9。增加Si的热导率的因素3N4陶瓷。 |
为了了解谷物、晶体缺陷的密度比较是显著的差异的内在电导率和实验电导率谷物。导热系数的一个非常大的细长β-Si报道3N4粮食是180 Wm1K1沿着c-axis [14]。这个值是56%预测内在电导率(320 Wm1K1)β-Si3N4,表明大量的晶体缺陷的谷物。因此,最近开发的β-Si热传导机制3N4陶瓷接近(III)模型。 Kitayama等人在他们的论文中提出β-Si的导热系数3N4谷物是180 Wm1K1[41]。不管等人并没有考虑β-Si的热导率3N4与不同大小颗粒,只集中在晶粒生长[21]。因此,他们得出的结论是,晶界和晶粒尺寸的厚度(two-grain连接数)是重要的因素决定电导率。但是,晶粒大小不影响强烈的电导率范围广泛,如图6所示。例如,标本的导率与平均晶粒尺寸6和11所示μm 3 mol % Y2O3而且几乎是相等的。的情况2O3和艾尔2O3可能是2O3导率的增加,没有变化观察到随着晶粒尺寸。另一方面,由于总援助内容决定晶界相的厚度,较低的烧结援助获得的更高的导热系数。然而,标本的导率为0.5摩尔%添加剂在Y2O3nd2O3和Y2O3状态”2O3系统低于标本1摩尔%添加剂,如图5所示。从这些实验结果认为,β-Si热传导3N4量较低的陶瓷烧结添加剂可能不是强烈受到晶界和晶粒尺寸的厚度。 控制因素的导电率水晶缺陷为β-Si3N4谷物从上面的讨论,到β-Si晶体缺陷3N4谷物是导电率的重要因素之一。一些报告关于混乱到Si3N4谷物已经出版(42-46)。布里托等人观察到的微观结构β-grains试样的室温电导率120 Wm1K1,发现内部的混乱和强大的压力之下谷物(43、44)。 固溶体也可能影响电导率。两种可能的流程提出了形成固溶体。一个取决于烧结艾滋病的类型。添加铝2O3结果如果3N4固溶体(SIALON) [47、48]。在硅铝和氧3N4是置换晶体中的杂质。氧取代氮、硅和铝取代。在这种情况下,质量差异和空缺在晶格中形成,它们充当声子散射网站[19]。因此,铝的导电性2O3再版β-Si3N4陶瓷一直是低,小于30 Wm-1K-1 [19]。其他可能的过程是由于solution-reprecipitation液相烧结的过程。不管等人观察β-Si的内部结构3N4谷物在陶瓷Y203nd2O3添加剂不形成固体的解决方案,发现非晶5纳米的颗粒大小,和水晶Y-Nd-apatite ((Y, Nd)yabo21410如果6O24N2)的颗yabo214粒直径10 ~ 30 nm在Si3N4谷物,大概的沉淀中形成冷却Y-Nd-SiO-N [49]。除了上面描述的晶体缺陷,改变β-Si的晶体结构被观察到3N4谷物,虽然温度超高的标本被解雇。宗像等人退火β-Si3N4谷物解雇2200°C条件下和30 MPa N2和观察到的存在αβ-Si类型结构3N4通过透射电子显微镜[46]谷物。点缺陷(25 30)可能是重要的。最近,Kitayama等人已经成功地测量β- Si中的氧含量3N4晶格的热气体提取方法,发现β-Si3N4氧含量为0.158 -0.258%取决于添加剂成分[50]。此外,他们应用电子自旋共振(ESR)测定β-Si空缺职位的数量3N4谷物,发现氮空缺,与溶解氧原子[51]。 声子平均自由程对于β-Si等非金属固体3N4、传热是由声子传输。导热系数实验(κ)是由: κ=C x Vλ/ 3(2) 其中C是热容,V群速度和λ声子平均自由程[52]。这里,声子的平均自由程β-grain值180 Wm1K1[14]计算用方程(2)报道的群速度和热容值10,19岁,和估计~ 36海里。长度远小于颗粒大小,和比β-Si大得多3N4将轴和c-axis晶格参数(分别为0.761和0.291 nm)。计算距离,因此,认为对应晶体缺陷的时间间隔,即点缺陷和混乱。作者一直在集中他们的注意点缺陷,因为点缺陷的数量在谷物比混乱的数量大得多。在点缺陷的类型,溶解氧原子成β-Si发现了3N4谷物如上所述。这可能是一个重要因素影响导电性。理解内部缺陷和热导率定量之间的关系,必须进行更进一步的作品关注微观结构表征的谷物和精确的化学分析的杂质颗粒。 粮食大小根据前一节,晶粒尺寸不影响β-Si的电导率3N4然而陶瓷、晶体缺陷的类型和密度颗粒决定电导率。特别是,艾尔2O3另外,因为阿尔2O3生产硅3N4固溶体,所以粒径对电导率没有观察到的影响如图6所示。另一方面,Y2O3再版标本展示电导率随着晶粒尺寸的增加。布里托等人观察内部结构的β-grains Y2O3122 Wm再版试样的电导率1K1,发现小颗粒缺陷密度较高,表明热导率较小的颗粒较低。由于这个原因,在Y2O3此外,晶粒生长产生高导电性。所以,增加导热系数随着Y的晶粒尺寸2O3除了不是由于晶粒尺寸的增加,但由于切除晶体缺陷。 热各向异性各向异性导热β-Si3N4陶瓷应该注意。Hirao et al。[23], Watari et al。[24], Akimune[27]发现热面向高硅的各向异性3N4,他们提到β-grain取向方向显示更高的电导率比其他方向。另一方面,李等人建立的电导率沿着c-axisβ-Si3N4大约3倍的导电性将轴[14]。因此,它被认为是面向各向异性电导率高β-Si3N4与内在密切相关,各向异性电导率β-Si吗3N4根据晶体轴谷物。因此,β-Si取向和长宽比3N4谷物是影响导电率的关键因素。 Y2O3添加剂显微结构的观察表明,Y2O3添加剂是本地化作为yttrium-silicon氮氧化物水晶或玻璃相triple-grain连接或晶间玻璃膜[53、54]。没有β-Si的晶格参数的显著变化3N4已经观察到当Y2O3添加剂是[48]。此外,yttrium-silicon氮氧化物,提供数量可观的过渡和碱杂质元素包含在原始粉末为晶界阶段,和最小化可溶性杂质颗粒[54]。因此,除了这个援助不会产生点缺陷如空缺,间隙原子,原子置换和固体的解决方案,并增加β-Si的导热系数3N4陶瓷。 结论实验观测和理论计算表明,晶体缺陷的数量和类型在谷物以及热各向异性电导率的因素非常重要β-Si3N4陶瓷。去除颗粒的晶体缺陷β-Si增加导热系数的一个重要因素3N4陶瓷,是通过使用高纯度粉末,选择有效的烧结艾滋病和控制晶粒生长。增加热β-Si各向异性3N4在形成陶瓷也通过晶粒取向。这些工艺技术生产β-Si的组合3N4陶瓷的热导率高于150 Wm1K1在室温下。 Acknowledgements我们想感谢富山大学的教授k . Mori导热系数测量的方法和有用的讨论。谢谢也扩展到Drs。lPottier, c。李和j·p·罗杰,教授和博士d·弗尔涅Laboratoire d 'Instrumentation de因为学校皮埃尔和玛丽·居里的非常有用的当地Si的导热系数的测量3N4谷物和宝贵的意见。此外,作者感谢美国博士Kanzaki国家先进工业科学技术和m . Kitayama博士协同陶瓷实验室,精细陶瓷研究协会(目前,福冈理工学院),为有价值的评论和讨论这项工作。亚博老虎机网登录 引用1。d .辛苦地和k·h·杰克,“氮化硅的晶体结构”,自然,180 (1957)332 - 335。 2。p·f·比彻,“钢化陶瓷微观结构设计”,j。陶瓷。Soc。,74 (1991) 255-269. 3所示。西冈M . Yoshimura t . a . Yamakawa和M。米iyake, “Grain Size Controlled High-strength Silicon Nitride Ceramics”, J. Ceram. Soc. Japan, 103(1995)407 - 409。 4所示。n .近藤y铃木和t . Ohji超塑性烧结锻造氮化硅的各向异性的微观结构形成”,j。陶瓷。Soc。,82 (1999) 1067-1069. 5。t .川岛,冈本h . h .山本和a . Kitamura“晶粒尺寸依赖的断裂韧性氮化硅”,j .陶瓷。Soc。日本,99 (1991)320 - 323。 6。k . Hirao t .长冈·m·e·布里托和s . Kanzaki“微观结构控制氮化硅的播种与Rodlikeβ-silicon氮化硅颗粒”,j。yabo214陶瓷。Soc。,77年(1994) 1857-1862. 7所示。g . a .松弛非金属晶体热导率高,j .体育。化学。固体,34 (1973)321 - 335。 8。g . a .松弛r . a . Tanzilli r·o·波尔和j·w·Vandersande“AlN的内在导热系数”,出处同上,48 (1987)641 - 647。 9。c·l·朱利安“稀有气体晶体导热理论”,理论物理。牧师,137 (1965)128 - 136。 10。k . Watari y塞其和k . 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