辅助金属氧化检测器变换spark光学分光计分析
光倍器管提供替代物,即完全半导体设备,用于高端分析的某些金属分析器使用数项OSS应用CMOS技术因各种原因优先选择
亚博老虎机网登录图像感知Hitachi高技术分析科学
文章将概述用户应考虑切换CMOS基火花分光计的四个令人信服的理由
开工区域OES工具顶部没有首都
投放光散分光计是一项重要决策先进仪器历来使用多光倍管检测广度光波长的各种元素
高成本PMT产生昂贵工具不过CMOS检测替代工具使得有可能以低得多的成本实现范围更广的元素和波长
二叉需要分析广域元素
PMT检测器极能测量特低级具体元素,但它们有局限性。每种检测器优化几波长事件光,少数元素结果有限
亚博网站下载如果需要测量各种材料中范围更广的漫游元素和痕量元素,投放多探测器工具会很快变得代价高昂(如第1点所示)。
以CMOS为基础的检测器可测量广度广度光谱,使检测样本中更多元素成为可能
3级期望分解新区金属生产
亚博网站下载新建合金开发当今是一个活跃领域,并持续开发高强度轻量材料提高燃料节能和医疗设备,供人体移植后接受新的材料规格和客户需求定期出现时,选择适当的OSS工具至关重要
OES仪表为当前应用优化后,当新应用出现时可能过期对比之下,选择基于CMOS工具可使用户未来保持选项开放
4级需要低收费保护边界
亚博网站下载铸造机和金属生产和制造设施产生高运行成本,并因市场变异而增加原材料和回收原料价格波动挑战为使所有其他成本尽可能低和可预测,铸造厂常压下
与PMT对等工具相比,CMOS基础OSS仪表操作需要较少功率,结果操作成本降低
OE系列OSspark光谱计,具体地说,进一步减少吸尘泵的耗电量和分析期间需要的argon量,从而节省更多费用
重要性检测限制
在某些假想中PMT检测器仍有必要分析要求检测极限低于CMOS检测器
yabo214关于使用CMOS检测系统OE串行Hitachi发布文章,内含各种基合金检测限值表,如铁和钢记录显示极低检测限值可实现
选择最合适的检测技术具体应用至关紧要,如果检测限值指令仍可能需要PMT检测器
HitachiOE串行
Hitachi光学排放分光计数列将CMOS检测器广度和灵敏度与新式光学设计合并在一起,结果性能水平通常只有高得多工具才能实现。
OESeries以紧凑体积和低运算成本能够用OE750模型检测金属内部所有元素,包括气体
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