有新的的方法构造和评估纳米电子器件使用一个扩展工具包的扫描探针microscopy-based技术。本文描述了一些先进的技术描述和操作纳米电子设备使用原子力显微镜(AFM)。
开始与碳纳米管(CNT)网络设备制造使用传统光刻(微米尺寸分辨率),可以描述单个碳纳米管,减少不必要的碳纳米管,并创建一个atomic-sized晶体管有能力执行单分子检测。
的MFP-3D™AFM探针台选项是用来测量和操纵各种流程来说明AFM-based纳电子学的技术研究的最新进展。
图片来源:牛津仪器庇护的研究
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