整形移植形式大相径庭从尺寸(从毫米到数十厘米)、形状(从复合马脚形假肢到简单球形头)、素材(从流水线到不锈钢)和表面结晶(从复杂纹理促进稳定到超平滑减少摩擦)方面都可能发生这些变异。
控制部件关键规范在需要考虑范围如此之广的参数时可能会变得相当富有挑战性。多不同计量工具必须参与,因为它们适合不同任务
测量参数的容度也往往超紧顺从性能和外科移植成功后长寿高级光学推理为研究、开发和质量控制制造提供多项优势整形嵌入.
非接触非损耗特征测量、快速和精确分区测量、广动态范围测量非常粗糙和极平滑表面、对材料类型不敏感和完全自动化能力测量批量部件并按用户指定参数执行脱故障汇总等,都是Bruker白光插图技术提供的一些好处。
需要表面纹理和粗糙度量度
严格规范下的高表积规范(例如ISO7206ASTMF2033、ASTMF2068、ASTMF2791等)用于精密制造整形部件病人健康是行业严格遵守局部规范的主要原因设备实施时连一个缺陷分量都可能发生可怕的后果
如果分量与病人身体交互作用有任何不确定性,可禁止设备按设计工作或甚至可能造成未来复杂问题此类复杂问题从病人不适到需要进一步治疗和外科手术或甚至死亡不等。
归根结底,召回缺陷产品是制造商努力避免的东西,因为这通常会给医学界和普通民众带来名声损失并带来沉重的财政负担。
目前的制造量加高生产率期望结果要求深度整合计量学和生产过程,此外还有部分检验的临界下游理由
举例说,监测平均表面粗糙度可帮助规范偏差或不正确的打磨过程信息可回馈,以便重新优化上游工具,从而减少原材料废料和少产生坏零件清晰例子显示制造商投资回报
基于以上所有原因,必须用精确、快速、非损耗性并可复制方式检查整形部件轮廓行业质量控制方面,粗糙度和表面粗度是主要标准
Bruker基于WLI的精密性能学:优异性
Bruker基于WLI3D光学剖面设计为行业提供了独特的性能优异特征描述,并提供了非接触剖面分析的显性收益,非接触剖面分析对正构件中大多数最终控件都是强制性的。
以白光透透视系统基础原理,直接提供次压垂直度量能力,独立于目标放大使用
光或暗面有效测量由这种方法促进,因为它不受表面反射或颜色影响
和大多数光显微镜一样,WLI剖面可视化几毫米方形全景场,低放大度达次微侧分辨率高放大度达次微分解更多相关统计数据通过完全浅度测量得到保证,并降低缺失关键缺陷区的可能性,如图1所示。
图1骨球上几片迹无法正确识别坑缺陷时,浅度测量允许自动检测缺陷并描述其严重程度图片感想:Brukerna
结合自自动化测量能力时,这些优势意味着,这种WLI剖面程序最优选择评估粗度质量
高分辨率表层映射符合浅度标准ISO25178和ISO7206-2表层完成需求(见图2)由WLI方法提供
图2原创初始和终极结束步垂直横向相联分布图:XY=1.6*1.2m2+2微米].图像感想:Brukerna
高吞吐量和长工远目标操作能力相结合是Bruker光学剖面实现WLI
成像数组和多数据集单垂直扫描连接高吞吐量包括自聚焦表层,测量周期可以快到几秒百分百检验
最后,WLI剖面设计脱钩垂直分辨率与目标放大相悖,这与任何其他光学技术相悖,后者导致所有目标的最终子辐射计垂直分辨率(见图3)。
Bruker设计超长工作距离目标以拓展用户访问曲面杯面或膝关节侧的能力,NPFLEX光学剖面仪大头特征进一步推展
Bruker独有SLWD目标 和++45度大旋转扫描头特征NPFLEXWLI剖析系统多功能存取复杂部件免损垂直解析
图3无损垂直解析易分数访问通过Bruker独有SLWD目标和NPFLEXWLI剖面系统+45度大双扫描头特征实现。
质量控制自动化HipCup检验
BrukerNPFLEX和ContourXWLI剖面设计专为生产楼层设计
可选内部激光校准可进一步帮助可靠度量学计量可追踪性是质量标准的一部分时,剖分器失标时标记能力对医疗部件至关重要
系统还配有专用生产接口,与标准接口完全分离
生成界面从标准通用生产流中搭建:运算符加载部分,工具通过批号或片号识别部分并预先确定测量结果,报告故障结果,并显示下批信号(见图4)。
图4高级制作界面和自动生成报表实例
易用特征,如条码扫描很容易实现,以启动免键盘测量程序,并需要最小知识操作器部分通过用户-ID输入指定授权运算符,条码阅读也有助于建立访问控制
同时安全密码锁定标准接口代码只允许质量工程师访问,以便制作专用菜谱或运行/存取某些功能(例如剖面标定等)。
举例说,测量波段杯面的流程很容易制作平面杯通常置定或安装在仪表上,以确保部件测量时死硬正确方向段数再扫描或输入访问相关测量例程
下一步,工具使用机动XY采样阶段横向移到测量点:向下向下向下切片直到内中层聚焦所有这些都无需用户干预
自动取并处理全视场地形功能启动,这意味着从数据中去除最合适的域,并按real(ISO25178或剖面图(ISO21920、ASMEB46.1)粗糙度标准应用滤波
最后阶段是粗度参数与容度对比时,它通过或失败完整报表可打印或自动保存,使用部件号作为文件名
单量度小于30秒,从扫描部分条码到传递或失效判定高效流程允许大容量部件测量而不阻塞下游流程
自动生成报表的例子之一是高级编译界面
直接结果提供与高端自动化并发的必要渠道,较高级流程可使用第三方软件提供获取控件TCP/IP级命令和通用逗分变量文件输出结果等机器人加载4.0
图5显示综合交互通道Vision64软件使配方多布林克WLI剖面设计器和外部交互化支持输出函数实现新建配方无缝传播通过自动光调整,它通过强度前标定或定型对齐保持可复制测量条件,计算出XY位置偏移
图5外部设备集成图与Bruker测量系统
设计未来整形构件:研发
商店楼层和研究实验室设置隐含不同样本、用户和用法研究实验室内速度和吞吐量不是关键要求更加重视灵活性,无论设置如何,重复性和最大精度仍然是当务之急。
样本自动化测量已知量并有确定测量位置、正常形状和已知物料组成亚博网站下载基于能比当前移植素材更好性能的属性,新素材可在研究实验室测试测试类型可能比简单粗糙度检验复杂
比方说测试可判定部分随时间穿戴方式这一过程可包括测试新生成部分后再对之应用加速老化进程,重构并量化差值限定特定编程或纹理过程将结构传入移植面,使其有利锚定和长期僵硬性可成为另一个例子。
亚博网站下载布鲁克标准软件接口和轮廓光学剖面设计师提供研究者需要的这些类型评价的一切-无论是平滑反射性、粗糙非反射性,或甚至高度反射性-光源高清晰LED组合和高数值孔径互换目标使得从各种材料获取数据简单直截轮廓XWLI.
与高级实信处理并发外部光照也为研究者提供独有能力以全焦点图像叠加高分辨率地形图可提高表示数据可见度或进一步调查反射度和潜在缺陷之间的交叉关系反射斜坡和底层细节,同层搭建帮助使用相同的干涉目标通过样本导航
布鲁克易用接口(VisionXpressTM)也为用户提供对光学剖面器的灵活综合控制(见图6)。这对于研发环境尤其重要,研究人员必须处理各种特征技术问题。
图6VisionXpress界面可快速学习曲线并灵活分析现场图像无外部环照 外环照尾端三维表示式加全聚焦强度图像
布鲁克独有的通用扫描插件模式保证系统自动适配并选择最佳算法以确保准确结果,而不管样本/片面或运算符经验如何。
穿戴机制这些植入物特别易感性可以通过应用这些福利从研发角度应用到臀部杯示例来调查
Femoral头部与衬里密切接触后,每台波形杯装配组装都有一个外壳状结构与aclibal杯相联众所周知,各种金属、陶瓷和塑料组合可产生碎片和摩擦,而这类碎片可导致嵌入物周围组织炎
骨解作用(骨折破坏)和伪调子可因穿戴和发炎产生,在少数情况下,会发生由陶瓷电磁变换模式引起的高噪摩擦叫声
亚博网站下载谨慎描述相关材料穿戴率对于提高所有这些产品稳定性和长期性能至关重要。Bruker3D光学推导仪用于获取这类信息
PEEK元域图7显示PEEK具有热塑性机械特性和化学抗药性,导致它被医学移植为高级生物素穿戴前后很容易使用WLI和Bruker推理计技术来获取宝贵的深入知识,了解这些材料如何作为工作设备的一部分使用。
图7双向显示PEEK(PetherEtherKetone)球体(左侧)、穿戴测试前表层(右上角)和穿戴测试后表层(右下角)。图像可分析丢失物量等参数。图像感知:Bruker Nano表层
结论
遍历式快速非接触三角和表面结晶由BrukerNPFLEX和ContourXWLI光学剖析器提供剖面图对生产楼层和研究实验室的许多应用都是理想的
精确和可重复测量技术提供理想 当它涉及到整形产业的严格需求获取3D数据集速度往往快得多,远比从接触波状分解计中单行跟踪快得多,3D数据集通常含有更多具有统计意义数据用于表层定性
3D光学剖面显示器提供简单高通量复制检查波段杯的能力通过讨论的具体自动化得到证明。高精度穿戴解决方案提供,面向医学移植行业
从设计到制造到模拟穿戴和老化产品,Bruker基于三维WLI光学轮廓法总结为整代嵌入物全生命周期提供极佳计量法解法
亚博网站下载信息源码审查并改编自Bruker Nano平面提供的材料
详情请访问布鲁克南诺表层