模光度量度法是什么

表层传感器技术由FormFactorFRT计量工程师开发,以提供优异资料说明测量样本和对产品质量广义解释

FormFactiveProf提供组合辅助传感器技术的选项^®计量仪表平面数据或样本中其他表面在混合分析过程精确量化

用户可选择混合不同的计量学和检验测量概念,使用表层S实现最大多功能性

即使是上下采样测量 搭建各种光学传感器点、线和视域传感器等可灵活实现数面参数,包括地形学、粗糙度、TTV弓和曲折、平面性、协同性、采样层厚度等多项参数

重装传感器为未来测量作业创建更适应性强的替代物,如互换样本容器和单个样本容器FRT微素加表层传感器用户可快速、有效可靠地完成测量职责

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点感应器

• 大面积快速
• 极灵活
• 扫描范围

场视图传感器

• 大区缝合
• 最高分辨率
• 小区快速

电影宽度感应器

• 多层多层
• 高端解析
• 大测量范围

原子力显微镜

• 易处理性
• 纳米计分辨率
• 大扫描区

点感应器

CWL是一个快速光点传感器,按色频距离测量原理操作CWL非毁灭方法可有效用于高低反射面

SLS快速光线传感器是需要高速测量应用的最佳选择运行与CWL相同的色距离测量原理传感器均衡分布于线上192个测量位数,而仅分布于线上样本可以在点感应器所需时间的一小部分内扫描

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封装显微镜

组合显微镜测量原理非接触测量技术对显微结构快速精确3D测量区级组合测量法在秒内提供有意义的发现

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白光插图

光学三维表层传感器白光插图基础白光插图法高分辨率高分射程并用快速平面读数区分

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宽度感应器

光膜厚感应器使用干涉法或反射法判定薄膜厚度非损耗几毫米至一纳米以下透明薄膜和层栈厚度可用薄膜传感器FTR测量

光分辨率反射测量高级评估软件构成FTR薄膜传感器基础亚博网站下载FRT可用IRT测量不透明可见光材料,但透明红外辐射

亚博网站下载IRT是专门设计膜内厚传感器,使用红外光源测量透明至近红外光的材料厚度

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原子力显微镜

安市原子力显微镜光传感器高空间分辨率不足时可整合子分辨率地形测量可用AFMFormFactor还提供AFM系统,可安装到光显微镜上,像正常目标透镜,提高工具分辨率和测量能力

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亚博网站下载这些信息取自FormFactor Inc提供的材料并经过审查修改

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