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样品制备的SEM成像

的见解从工业安娜Walkiewicz博士应用专家Quorum技术

在这次采访中,安娜Walkiewicz AZoM会谈,应用专家群体技术,关于样品涂层以及它如何帮助改善扫描电镜成像。

你能提供简要介绍的工作群体技术呢?

Quorum技术是一种基于英国南海岸的英国公司。我们的主要产品是电子显微镜样品制备系统和低温解决方案。我们专门从事支持简化样品制备成功的电子成像的工作流不同类型的材料。亚博网站下载

电子显微镜的基本原理是什么?

材料研究和技术的进步需要显微镜图亚博网站下载像亚微米或更小的结构。光学显微镜将不会在这种情况下由于其分辨率的限制。

相反,我们需要使用更复杂的扫描电子显微镜和透射电子显微镜,分辨率可以达到事实上的地方。

生成一个图像,电子显微镜使用电子。他们的波长比可见光小得多,这意味着它可以解决好结构和看到更多的细节。

使用电子意味着我们还可以访问不同的二次电子或后向散射信号,我们可以分析x射线的样本来了解样品的成分。

我们不得不考虑在样品制备电镜成像?

的主要因素影响电子显微镜成像的可行性和质量是样品的性质——特别是其电导率。

固体导电样品不需要复杂的准备,在扫描电镜成像。非或不导电固体样品之前必须涂成像技术来防止积累电荷导致工件的外观。

准备的过程是更复杂的non-solid样品。Dryable样本可以准备通过应用生物样品制备技术,如CPD或冷冻干燥涂层。

Non-dryable样本在不同水分含量可以在低真空或成像通过高真空低温技术。之前我们也可以用金属涂层样品成像,从而确保我们得到一个更好的信号。

什么是最好的方法来选择一个合适的样品涂层吗?

选择最合适的涂层在准备选择一个样本,我们需要看看在成像过程中生成的信号。这包括考虑主梁及其交互与样品。

样本的反应通常是由多个信号,包括二次电子、背反射电子,x射线和分散发光。

使用扫描电镜时,有哪些常用的二次电子和x射线,渗透深度影响其效用吗?

一个典型的SEM分析二次电子和后向散射。如果我们也有一个EDS探测器,我们还可以分析x射线。

有四种类型的二次电子,我们可能会收到一个示例作为响应。第一和第二种类型的电子样本的地形有关。

第一种电子收到来自样品的顶面。这些电子离开样品在一个非常高的角度,通常需要特定的镜头探测器收集和分析这个信号。

平均桌面只扫描电镜检测第二种类型的电子。这些电子通常与高束电压成像和提供样本的地形和结构信息。

渗透体积与梁电压使用,用高电压导致深层渗透到样品。

低电压的应用让我们获取信息从最顶层表面的样本,但这并不总是可能的。

如果我们没有完整的SEM分析功能,我们可能需要把样本本地化的响应最顶部的表面。我们通常使用金属涂料——铁。

关于Walkiewicz博士

安娜·e·Walkiewicz博士专家群体的应用程序的技术。她持有博士学位的伯明翰大学,她研究手性在纳米尺度上的识别。在科学家担任应用SEM和AFM产品Keysight技术,她承认适当的样品制备高分辨率成像的极端重要性。她的主要感兴趣的领域在于发现过程的结果发生在最表面的一部分。

这些信息已经采购,审核并改编自Quorum科技有限公司提供的材料。亚博网站下载

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    Quorum技术有限公司(2022年,09年3月)。样品制备的SEM成像。AZoM。2022年12月29日,检索从//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=21320。

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    Quorum技术有限公司2022。样品制备的SEM成像。AZoM,认为2022年12月29日,//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=21320。

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