纳米氧化铝是一种在高精度材料抛光过程中严重依赖的材料。包括以下内容的列表：晶体表面，玻璃产品，宝石，光透镜，微晶玻璃基板，半导体，塑料，晶体表面等。
图片来源：Bettersize Instruments Ltd.
在防止形成时氧化铝聚集体这可能会导致工件上的划痕，抛光悬架的稳定性非常重要。
为了评估抛光悬架的稳定性，必须准确确定Zeta电位，这是一个关键指标。在此过程中，贝纳诺90 Zeta的特征是纳米氧化铝分散的纳米氧化铝的大小和Zeta潜力。
仪器
Benano 90 Zeta纳米颗粒尺寸和ZETA电位分析仪配备了固态激光器，波长为671 nm，功率为50 mW，非常适合表征纳米氧化铝的尺寸和ZETA电位。为了促进DLS测量，在90°处获得样品的散射光信号并收集。
通过计算强度波动提供了相关函数。结果，可以获得扩散系数。使用Stokes-Einstein方程确定样品的大小和大小分布。
相分析的光散射（PAL）技术用于在12处提供来自散射信号的电泳迁移率，样品的Zeta电位可以从亨利方程中得出。
样品制备
纳米氧化铝浆，一种高度浓缩的浆液，随后在去离子水中稀释了100倍。使用内置温度控制单元Benano 90 Zeta，测量温度保持在25°C。
通过聚苯乙烯（PS）细胞促进了DLS测量，而Zeta电位测量是通过使用折叠毛细管细胞获得的。为了研究结果的可重复性并获得标准偏差，每个样品的测量至少三次。
结果和讨论
a）尺寸测量
图1。纳米氧化铝的相关函数（顶部）和尺寸分布（底部）。图片来源：Bettersize Instruments Ltd.
使用DLS技术，测量了纳米氧化铝的大小和大小分布。Z平均直径为100.91 nm，多分散指数（PDI）为0.034。尺寸分布显示出一个峰值，PDI小于0.05，表明纳米氧化铝的大小接近单分散。
b）Zeta电位测量
图2。相图（左）和ZETA电位的趋势图（右）。图片来源：Bettersize Instruments Ltd.
通过使用PALS技术检测到纳米氧化铝的Zeta电位。Zeta电位测量的相图在图2中描述，其斜率表明由于电泳而导致光频移。陡峭的斜率证明了高信噪比。
表1描述了由10个测量结果产生的Zeta电位值。如表1所示，似乎颗粒表面携带负电荷，因为水中氧化纳米铝的Zeta电势值为负。Zeta电位的平均值，37.3 mV和0.92 mV的标准偏差显示出良好的结果可重复性。
悬浮液的高稳定性是由ZETA电位的幅度超过30 mV的。此外，PDI为0.034进一步证明了这种稳定性，由于缺乏聚集体。
结论
成功地雇用Benano 90 Zeta在此过程中，可以确定纳米氧化铝在水性环境中分散的大小和ZETA潜力。测量结果表明，纳米氧化铝的大小接近单分散，并且具有高稳定性，ZETA电位幅度超过30 mV。
表格1。纳米氧化铝的Zeta电位。资料来源：Bettersize Instruments Ltd.
| 测试 |
Zeta电位（MV） |
| 1 |
-37.0 |
| 2 |
-37.9 |
| 3 |
-36.6 |
| 4 |
-38.6 |
| 5 |
-37.8 |
| 6 |
-37.2 |
| 7 |
-35.6 |
| 8 |
-36.4 |
| 9 |
-38.1 |
| 10 |
-37.9 |
| 意思 |
-37.3 |
| 标准偏差 |
0.92 |
此信息已从Bettersize Instruments Ltd提供的材料中采购，审查和调整。亚博网站下载
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