石膏的性能受到多种因素的影响，粒度分布一直被认为是最重要的因素之一。这篇文章探讨了使用激光粒度分析仪来调查石膏的粒度分布在研磨过程之前和之后。
图片来源:Bettersize Instruments Ltd。
这里给出的测量结果强调了两者之间粒度分布的变化石膏样品，展示了该粒度分析仪仪器的优良重复性。
石膏的性能与粒径分布有关
石膏已被用于各种各样的应用，从古罗马建筑的建造到用作传统中药的药物。1石膏可以从蒸发岩中提取，也可以从石膏中开采。
尽管如此，建筑仍然是石膏的主要应用领域。典型石膏处理在建筑业始于破碎初步破碎,研磨和加热过程,紧随其后的关键阶段的生产石膏(半水石膏)——一个受欢迎的材料由于其能力在硬质量的水。
可能影响石膏性能的因素包括其粒径分布、加水量或使用的填料类型。
在实际应用中，关键性能参数取决于最佳粒径分布，例如凝结时间、抗压强度或密度。2因此，控制粒度是石膏生产中的一个重要因素。
图片来源:Bettersize Instruments Ltd。
Bettersizer ST作为一个关键的质量控制工具
Bettersizer ST是一款领先的粒度分析仪，非常适合于质量控制应用。由于其强大的激光衍射技术和专利的DLOS光学系统，该仪器保证了优异的产品性能。
这种强大的功能组合有助于快速测量，同时确保可重复性和准确的结果。在这里展示的例子中，Bettersizer ST被用于测量两种用于建筑行业的商业石膏粉。
石膏粒度分布的测定
为了便于测量，样品被分散在耐腐蚀循环罐中的乙醇下。该仪器能够在数秒内以图形形式返回测量结果。
其中一个样品经过了研磨过程，而另一个样品没有。图1显示了两个样品的粒径分布Bettersizer圣．
粒度分布的范围被发现是相对相似的，但它是注意到更细的颗粒存在的磨削过程。yabo214
磨前粒径均匀性较好，磨后平均粒径变小，但磨后粒径分布不均匀。
这些发现可能表明研磨过程没有完全完成或足够彻底，突出的是在研磨样品中有大量相对较大的颗粒。yabo214
这里展示的例子强调了Bettersizer ST提供快速和准确的粒径分布测量的能力，这是确保石膏等材料的稳健质量控制过程的关键因素。亚博网站下载
图1所示。用Bettersizer ST测量了石膏粉磨前后的粒度分布。图片来源:Bettersize Instruments Ltd。
很好的测量重复性
重复性可以说是任何粒度分析仪最重要的参数之一。图2显示了Bettersizer ST从地面石膏中获得的样品的结果，并测量了5次。
结果表明，五种分布曲线几乎完全重叠，证实了Bettersizer ST测量的优良重复性。
表1显示了D10、D50和D90的重复性值，强调了石膏的粒径是通过实验确定的，变异性小于0.5%。
图2。一个地面样品的五次测量的粒度分布。图片来源:Bettersize Instruments Ltd。
表1。5次测量的D10、D50、D90及相应的重复性比较资料来源:Bettersize Instruments Ltd。
| 样本 |
D10(μm) |
D50(μm) |
D90(μm) |
| 石膏1 - 1 |
1.654 |
15.34 |
59.31 |
| 石膏1 - 2 |
1.646 |
15.18 |
58.76 |
| 石膏1 - 3 |
1.653 |
15.33 |
59.42 |
| 石膏1 - 4 |
1.651 |
15.31 |
59.19 |
| 石膏1 - 5 |
1.652 |
15.28 |
59.26 |
| 可重复性 |
0.19% |
0.42% |
0.43% |
结论
使用Bettersizer圣，可以快速准确地测定两种石膏样品的粒径分布。
通过对地面样品的重复测量和结果分布曲线的比较，仪器显示出了良好的重复性和可靠性。
Bettersizer ST是一个理想的粒度分析仪的质量控制应用，由于其能力提供可靠，准确的结果，通过方便，快速的测量。
参考文献
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李时珍(1596)《本草纲目》。再版，奥克兰:加州大学出版社，2021年。
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Jerome a;Sylvain m;Solene t;Eric m;石膏板原位x射线层析成像监测。杰姆。Concr。决议2016,82,107-116。
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