x射线荧光分析(XRF)是确定固体和液体分析物元素组成的快速、非破坏性分析的最古老的技术之一。塑料、金属、陶瓷、玻璃等等都可以用XRF进行分析。
在这篇文章中，重点将放在组成金属的元素及其分析上光谱仪支持LIMS(实验室信息管理系统)软件。两个不同的案例涉及大量的样本，因此，LIMS软件的支持，将被检查:金属在土壤中的存在和古老的铜合金，以显示这个实验室软件的灵活性和可靠性。由于这个原因，LIMS软件也是冶金应用领域的工业实验室处理大量数据和样品的实用解决方案。
确认XRF程序很重要。XRF分析的一般解释是，XRF分析中使用的样品被伽马射线或x射线照亮，导致核心级电子激发到激发态（Simon 2018）。
根据Koen(2000)的说法，x射线荧光分析在过去15年里发展迅速。第二次世界大战结束时，XRF被引入工业实验室。
作为多通道或顺序使用，仪器首先基于x射线管投射激发，布拉格反射波长色散光谱分析，计数探测器测量荧光x射线。
该方法和严格的基体结果是基于与未知元素成分基本相同的元素样品参考的校准。应用领域包括陶瓷、冶金、聚合物工业以及岩石、矿物和土壤分析。
在20世纪70年代，XRF变得越来越多用途，可以用于基于计算机的分析。如今，这种分析方法可以确定粗糙度、密度和层厚。
X射线荧光分析也可以应用于考古领域，显示了大量的数据和样品，X射线荧光分析是研究古代铜合金和铜合金的理想方法与其它元素检测方法相比，具有快速、无损、多元素、高精度、环保等优点．根据Lutz的说法，由于它是一种多元素和非破坏性的方法，因此可以在短时间内分析广泛的元素。因此，光谱仪的连接可能是困难和LIMS软件是解决设备连接、样本和数据评估问题的直观解决方案。
另一个例子是土壤中金属的定量分析。正如已经确定的那样，根据dos Anjos（2000），X射线荧光分析确定了一种分析物中存在的元素数量。
XRF也是一种非常准确和可靠的技术。因此，样品的测定和质量对于确认土壤成分中是否存在金属至关重要。
XRF分析涉及对许多样品进行分析、评估和跟踪LIMS软件，可加快实验室统计评估的速度，同时可提高评估数据的质量。
XRF是一种定性和定量分析，意味着实验室过程必须以革命性的方式进行验证。LIMS软件提供了可靠和灵活的解决方案，允许对合金元素进行分析，以确定其可变成分。
XRF分析得到的大量样品可能会导致混淆。LIMS软件角色的作用是让技术人员通过消除那些潜在的错误来获得尽可能可靠的结果。
综上所述，当有大量的数据和样本需要跟踪时，可以确定XRF是一种准确的分析方法。因此，为了提高精度、可靠性和成本效益，实验室需要LIMS软件的支持。
来源
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