纳米粒子尺寸分布的小角度x射线散射yabo214

由Xenocs2020年9月21日

用于过程监测或质量评估的纳米颗粒的大小分布以多种形式被yabo214确定。纳米粒子正yabo214在以不断增长的速度被创造出来，并已成为开发具有增强性能的新材料的重要组成部分。亚博网站下载

除了纳米颗粒的化学性质外，最终产品的性能取决于它们的大小，以及它们在整个加工阶段保持分散状态的yabo214能力。¹

小角度x射线散射(SAXS)是一种具有最小样品制备的无损技术，可以在1-250 nm范围内测定材料结构。它给出了一个大体积(通常为1毫米)的统计相关信息^3.）.因此，它是显微镜技术的完美补充，只提供局部信息。

虽然传统上SAXS用于定义良好的实验室批次上的窄尺寸分布，本文演示了如何与独特的数据分析算法耦合，SAXS可以成功地应用于工业批次的纳米颗粒在多个工艺步骤。yabo214

纳米制造商是纳米复合材料和纳米颗粒的制造商。yabo214²SAXS是唯一能够精确测定干粉、分散剂和纳米复合材料纳米尺度尺寸的技术，为纳米制造商提供整个生产链的纳米结构信息。

测量数据和结果

Nanomakers生产的一批SiC粉末(根据透射电子显微镜的模式尺寸为33.5 nm)以三种不同的形式进行了表征:纳米复合材料、干粉和分散体(使用ISO方法)^3.用于表征分散性)利用Nano-inXider．

通过SAXS获得的碳化硅纳米颗粒作为干粉，作为分散体或作为纳米复合材料。yabo214实线对应于累积体积分数。直方图的槽宽为1.4 nm。

图1所示。通过SAXS获得的碳化硅纳米颗粒作为干粉，作为分散体或作为纳米复合材料。yabo214实线对应于累积体积分数。直方图的槽宽为1.4 nm。

数据精简后，利用期望最大化算法(EM)拟合实验散射剖面，^4，5在Xenocs XSACT软件中实现，以确定纳米颗粒的大小分布。yabo214

图1显示了由SAXS数据确定的大小分布。在所有样品上均检测到了原始SiC纳米颗粒的模态尺寸，其尺寸分辨率为1.4 nmyabo214。

虽然大多数SiC纳米颗粒很好地分散，SAXS已确定残余yabo214团聚的存在分散。在纳米复合材料的尺寸分布上，SiC模式在35 nm左右，而聚合物基体的模式在5 nm左右。

这决定了纳米颗粒在聚合物基体中的良好分散状态。yabo214与其他表征方法相比，这一数据以最小的努力和时间证实了纳米制造商使用的粉末合成和加工步骤。

与EM算法相关联的SAXS可以确定尺寸分布工业级纳米颗粒yabo214以干粉、分散物或精确嵌入基质的方式测量。最小的样品制备和短的测量时间符合过程监控和日常评估的需要。

SAXS是一个相关的和强大的技术，是补充电子显微镜。Xenocs XSACT软件集成了最先进的SAXS算法，大大简化了数据分析。

这些信息的来源、审查和改编来自Xenocs提供的材料。亚博网站下载

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美国心理学协会
Xenocs。(2020年9月21日)。纳米粒子尺寸分布的小角度x射线散射。yabo214AZoM。2021年6月18日从//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=19568获取。
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Xenocs。纳米粒子尺寸分布的小角度x射线散射研究。yabo214AZoM．2021年6月18日。< //www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=19568 >。
芝加哥
Xenocs。纳米粒子尺寸分布的小角度x射线散射研究。yabo214AZoM。//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=19568。(访问2021年6月18日)。
哈佛大学
Xenocs》2020。纳米粒子尺寸分布的小角度x射线散射yabo214．AZoM, 2021年6月18日观看，//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=19568。