在购买手持XRF仪器时，首先要做的决定之一是在硅漂移检测器(SDD)或PIN检测器之间做出选择。例如，奥林巴斯价格合理的XRF系列中的两种仪器有不同的探测器:Vanta Element- s分析仪配备了SDD，而Vanta Element™分析仪配备了PIN探测器。
图片来源:奥林巴斯科学解决方案美洲无损检测
了解这些检测器和回答关键问题之间的主要区别可以帮助您做出决策。
SDD和PIN:有什么区别?
sdd它每秒能比PIN探测器多计数10倍的x射线，是一项较新的技术。SDD分辨率比PIN低40 eV左右。然而，SDD能力的增强带来了成本的增加。为了权衡你的选择，考虑你将如何使用XRF分析仪。从回答以下问题开始:
- 你是否需要测量任何轻元素，如硫(S)、钙(Ca)、镁(Mg)、钾(K)、铝(Al)、磷(P)、硅(Si)或氯(Cl)?
只有SDD仪器可以量化这些较轻的元素。许多人错误地认为这意味着铝合金不能通过PIN探测器进行分类。然而，许多铝等级可以通过PIN探测器根据较重的元素含量(如铬、铜或铁)进行分类。对于更细微的差别，比如铝6061和6063之间的差别只取决于镁的含量。
对于SDD，检测限(LOD)通常要低3倍左右。更高的计数率也使SDD比PIN检测器更敏感、更精确。
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下一步——在分析程序之间做决定
这些问题应该有助于您确定检测器，这意味着您离为您的应用程序建立正确的分析器又近了一步。如果需要SDD，可以考虑OlympusVanta Element-S手持式XRF分析仪．它提供廉价的合金ID与轻元素检测。
这种分析仪既精确又快速。它可以在几秒钟内识别铝、镁和硅。它的SDD还可以区分类似的合金级别，如铝6061或6063与1100,303不锈钢与304。
适用于基本PMI，废料回收，贵金属和金属制造，该分析仪可以有效地测量铜，不锈钢，黑色金属，镍，铝和黄金克拉。
如果一个PIN探测器需要时，考虑入门级的Vanta Element分析仪，以负担得起的合金ID。
无论您的选择是什么，您都可以确信这两款分析仪都具有Vanta™系列所熟知的基本特性:可靠性、速度、连通性、坚固性和类似智能手机的易用性。
这意味着你可以从以下特性中获益:
- Axon技术™快速，可靠的测试
- 防尘防潮IP54等级
- 与奥林巴斯科学云™的现代数据共享和云连接
- 跌落测试(MIL-STD-810G)，防止跌落，减少昂贵的维修需要
致谢
生产的材料最初由泰德希尔兹，亚博网站下载便携式产品经理，分析仪器，奥林巴斯。
该信息的来源、审查和改编材料由奥林巴斯科学解决方案美洲无损检测。亚博网站下载
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