在金属生产中，铁合金是重要的组成部分，钢铁冶炼厂是铁合金的主要用户。硅铁（FeSi）是利用率最高的铁合金之一。
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目前，“湿化学”是最常用的方法来进行精确的分析硅铁合金. 但人工成本高，样品制备时间长。
对于硅铁合金的分析，X射线荧光光谱法是一种理想的替代技术，具有高通量和简单的常规样品制备。
与“湿化学”相比，用化学分析法分析硅铁合金X射线荧光光谱法通常测量为松散粉末或压制球团，由于这些样品中存在强烈的冶金和粒度影响，因此在精度方面存在局限性。
如果将样品作为玻璃盘进行分析，就可以克服这些挑战，从而提高结果的精密度和准确度。PANalytical和Claisse现已开发出一种应用程序，可用于XRF分析铁合金（尤其是FeSi）玻璃盘。
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