具有TOF二次离子质谱法的药片表面泛黄分析

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现代表面化学表征技术在医药产品的研究和发展中具有重要的作用。

两种最重要的表面分析技术是飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)和x射线光电子能谱(XPS)。它们的特点如下:

x射线光电子能谱

• 定量分析
• 元素和化学状态信息。

飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)

• 成像具有高空间分辨率（<200nm）
• 全面和高度特异性的化学信息(化学基团、元素、分子和聚合物结构)
• 极敏感(痕量检测限)

案例研究

片剂在光照下表面泛黄

用ToF-SIMS检测了白药片在光照下的黄变问题。

数据显示药物分子发生了选择性降解，由醋酸组变为醛组(质量差= 30)。这导致了新分子(Mdeg)的发展，其质量比原始分子(Mdrug)少30，其中M等于分子质量。

该醛基与芳环的偶联引起了从电磁谱的超紫色区域的光吸收的变化，至少部分地是可见光谱的蓝色区域，导致黄色变色。

制药白纸表面分析暴露假药

由于假冒药物变得越来越越来越可用（美国的美国药物中心的公共利益中心预计，2010年的假冒药品销售将估计为750亿美元），该技术用于生产这些假药的技术是变得越来越先进。

CERAM表面和材料分析公司与葛兰素亚博网站下载史克公司合作，通过使用ToF-SIMS和XPS等方法，创造了一种识别假药和正品的技术。

参照分析药物成分的标准技术，该技术着重于药物的工艺和制造方法，其结果是可以检测到早期无法检测的药物化学副本。