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扫描电子显微镜和贝塞尔波束显微镜是两种高功率显微镜技术贝塞尔波束可与SEM工具并用,但它们都是单机技术为了理解关键差分, 我们专注于这两种技术的原则 并解释两者间的主要差分
扫描电子显微镜
SEM是一种常用显微镜技术扫描表面SEM高能电子波束从电子枪射向兴趣样本电子波束受一系列透镜、扫描圈、偏转盘和孔径控制电子到达样本表面时,它们与它交互作用样本与进取电子交互作用时,它使样本发布二级Auger电子并发布X射线-两者均检测初级电子从与样本交互中反射还检测到
电子与所映射样本交互作用时,电子会因弹性散射和吸收交互作用而快速丧失能量,正是这种能量交换促使电子反射表面-通过弹性散射实现反射图像通过测量表面生成信号强度构建外延X射线有适用于每个元素的具体特征,因此SEM可用以确定表面的元素组成
贝塞尔贝姆显微镜
贝塞尔波束显微镜是一种平面照明显微镜,以广域模式摄取图像并使用不同类型的结构照透法映射样本贝塞尔波束显微镜使用自愈合光束对焦平面横向映射样本因为这些波束自愈合, 图像进程期间所经历的任何干扰都不影响图像质量, 因为波束在阻塞后会重构自身
真正的贝塞尔波束从不实际使用,因为这需要过多的能量近似贝塞尔波束通过向轴反射或透镜侧面发射高斯波束生成摄像头放在样本对面捕捉图像当样本被映射时,样本被映射为slips光线向平面几何采样射击,使显微镜能够摄取数以百计的图像,然后叠叠到彼此顶上生成3D样本图片。
密钥差异
两种技术之间的关键差分是SEM通常用于图像材料表面并判定其地形特征,Bessel波束显微镜可用于生成3D图像SEM生成2D图像,但在样本中显示空间变异可使用SEM构建三维图像,但需要应用额外方法
二次密钥差分 取决于基本操作原理SEM使用电子映射样本,令样本释放X射线和Auger二级电子,Bessel光学显微镜使用光横向扫描三维样本许多人会认为,因为Bessel光束显微镜使用光分分解和光毒度会比SEM低得多质量图像,但事实并非如此。贝塞姆显微镜片切片,不会长时间接触光,而是间歇性接触阻断样本图像被擦除并阻阻样本产生光毒效应,在许多情况下可导致比SEM高素素图像
两者间还有许多微小差别都使用不同机制,最突出的部件即检测器-SEM使用复杂电子检测器,而相机简单用于贝塞尔波束显微镜差异还扩展至常用图像样本类型亚博网站下载贝塞尔射线显微镜通常用于小材料(特别是生物素材)并用于图像细胞和小小小小小小小小小小小小小小小小小小小小小生物物主要原因是其他平面光基技术无法模拟小样本另一方面,SEM可用于小样本和大表层和大生物样本,平均成像大小介于直径5微米至1cm之间样本前端的另一大差点,特别是生物样本,是贝塞尔波束显微镜可用于活样本,而SEM则无法使用-因为样本需要放在真空中用SEM映射贝塞尔波束显微镜没有SEM那样高能
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