算法浮度法是什么

亚博网站下载单线测波度测量测量物的厚度和光特性变化,并依应用或大气压力分解挥发性粒度

上头EP技术奇特性 因为它能测量极薄薄膜的孔隙性 下至10纳米 测量速度和可复制性与传统浮度计相比, Ellipsitorporimeter完全匹配极薄薄薄膜孔度和孔度分布测量

亚博网站下载以硅为基础的技术使用低K素材,有机行业(封装OLEDhs)以及涂层行业使用SolGel技术员,胶片渗透性是一个关键因素单线孔数技术完全许可Semilab使用并获得IMEC专利

吸附循环有机溶剂等量测法测量光学特性变化和薄膜多孔薄膜光谱度量素材孔由吸附式填充 这些变化发生

从测量反折性指数和厚度行为全吸附周期推导出某些层属性:

• 疏水渗透
• 杨元模
• 浮度
• 坡尺寸分布和特征孔尺寸
• 传播系数

半拉布建议两种吸附周期搭建

1. 以水为溶剂
2. 真空下多有机吸附性(甲醇、乙醇、甲苯、IPA、Water等)。

视仪器配置而定,该技术可访问中观孔度(2>孔径 > 50纳米)和微孔度(孔径 <2纳米),并可用从10纳米到数微米图层使用

与传统浮度计相比,EP不需要胶片抓取或样本准备,完全适合极薄薄薄膜孔度和孔度分布测量这是一种独特的技术,因为它能测量单层和多层薄膜结构的漏洞性,测量速度优和可复制性

应用

上头EP技术亚博网站下载薄膜渗透性是使用低基素或多孔硅薄膜的硅基技术中的一个关键因素,有机电子可渗透屏障层对OPV或OLED(封装)、光电与金属氧化物₂TiO₂W₂O级₃感染太阳能电池使用SolGel技术

特征学

EP技术提供精确可靠测量:

• 孔尺寸分布和微薄薄膜青年模数,如超低K度、多孔硅度、纳米粒子层、金属氧化物或屏障完整性层
• 密封效率
• 浮度
• 厚度
• 折射索引
• 传播系数

亚博网站下载这些信息取自Semlab半导体物理实验室提供的材料并经过审查修改

详情请访问半导体物理实验室