如何评估CVD涂层？

本文将专门关注表征CVD涂料所需的工具。

本文将涵盖：

• 使用表面表征来测量表面键合的程度，表面的兼容程度和涂层的质量
• 使用表面能表征来测量亲水性和疏水性和其他表面参数
• 使用薄膜分析来确定涂层的最佳厚度
• 使用阻抗测量来确定CVD涂层的质量

物质表面表征的功能西尔科特克^®。

西尔科特克^®的表面特征功能

表征材料表面的能力是Silcotek涂料研究和开发的重要组成部分。为了了解新的惰性涂层，必须彻底表征表面。这在规模UPS和过程改进中起着重要作用。

可以使用几种不同的表面表征方法来发展对表面特性的理解和表面键合的机制。使用材料表征对Silcotek开发的所有涂层进行评估，以确保涂料满足客户的需求并具有高质量。

Silcotek还与客户一起工作，以协助表征为其特定涂层零件和基板材料提供新颖的解决方案。亚博网站下载

Silcotek以及内部进行分析，还通过长期建立的关系在宾夕法尼亚州立大学（PSU）使用设施。Silcotek的研发团队已通过宾夕法尼亚州立大学的材料表征实验室（MCL）使用仪器认证。亚博网站下载在这里，我们探讨了用于此分析的一些工具。

用于表面表征的工具

涂料表征需要两件事 - 一支具有知识来表征表面的R＆D团队，以及进行分析所需的工具。下面探讨了用于分析CVD涂料的一些工具。

XRF（X射线荧光）分析

XRF是确定合金元素组成的一种非破坏性方法，用于确定涂层前表面中存在的元素和金属底物。

了解底物的确切构成可以使用最佳的处理方法和最合适的涂层，这意味着涂层过程得到了优化。这很重要，因为基板的构成决定了形成的表面键，涂料的质量和整体产品性能。

FT-IR（傅立叶变换红外）光谱法

FT-IR使用红外分析来确定物种的化学身份，无论其状态如何。该技术通常用于质量分析和控制，以及开发新涂料时的研发。

FT-IR也可用于确定分子水平上表面的质量。与视觉检查一起使用时，例如使用显微镜，它可用于分析涂层的质量以及已涂层的涂层。

薄膜分析

西尔科特克提供自己的薄膜分析仪，可用于非破坏性测量30Å至350毫米之间的厚度。该系统还可以用于确定光学系数，例如灭绝和透射率以及折射率。

Silcotek使用薄膜分析快速确定表面厚度和质量控制。

测量表面接触角

接触角是一滴水与其接触的表面的角度。更具体地说，这是通过液滴测量的接触点和固体表面上的液体弯液之间的角度。接触角的值表示表面的易于润湿的程度。

当开发氢和超疏水性表面时，接触角是一个重要的参数。正确设计的正确能量的表面可以使表面极为排斥，从而增强了模具的释放行为，并降低了表面结垢的程度。

接触角的测量使Silcotek能够确保达到特定应用所需的表面能（因此是亲水性或疏水性）。

EIS（电化学阻抗光谱）

EIS是一种用于评估金属基板涂层性能的有用（主要）非破坏性技术。

EIS提供了有关涂层双层和单层电容及其法拉达阻抗的信息，所有这些都可以与涂层的性能相关，尤其是用于腐蚀性环境中的涂层。该技术可用于识别涂料中的差距，并开发具有更均匀扩散的涂料。

Silcotek测试

本文涵盖了可用的不同材料表征方法西尔科特克。这些工具使Silcotek能够开发新的涂料并帮助客户解决具有挑战性的问题。

这些工具可用于Silcotek，可确保它们可以提供始终如一的高质量涂料。

这些信息已从Silcotek提供的材料中采购，审查和改编。亚博网站下载

有关此消息来源的更多信息，请访问西尔科特克。