测量单个片剂上的涂层厚度并显示平板电脑变异

太赫兹波浪是独一无二的，因为它们可以测量单个片剂上的涂层厚度并证明与其他类似片剂的厚度的任何变化。

在线探针

TeraView最近生产了一种在线探针，可以放置在片剂涂层滚筒中，以监测和控制单个片剂的涂层厚度。ILOL3000每分钟大约需要100个读数，因此可以在一次完整的涂层运行中测量数千片平板。

然后可以实时地绘制此日期，以显示平板电脑到平板电脑的任何变化，并且可以与更广泛的控制系统一起使用以控制片剂涂层厚度，终点和报警，以提醒可能的故障。

与其他技术相比，阅读是绝对的，因此不需要复杂的化学计量模型。可以分析大量的涂层类型和厚度，检测范围从30微米到几毫米。

TPI Imaga 2000.

Teraview正在继续开发这一装置，以便它能够测量额外的特性，如密度、水分和界面指数(用于量化两层之间粘附水平的参数)。离线的etpi imaga 2000就是这种技术的一个例子，它已经显示了这些因素的重要性。

新的在线系统被设想为TERAVIEW的现有线TPI IMAGA 2000的改进版本，它生成各个片剂的3D图像。这些图像经常被证明可以将产品性能与受控或修饰的释放产品相关联。

TPI Imaga 2000是设计这些和类似产品，协助识别和量化关键质量属性（CQA的）的重要app亚博体育设备。在线ILOL3000是在过程开发，扩大和最终制造过程中测量这些过程中的下一个重要件。

该信息已从TeraView Ltd提供的材料中获取、审查和改编。亚博网站下载

有关此来源的更多信息，请访问Teraview Ltd.