利用扫描电镜对非导电样品进行电荷消除

使用电子显微镜观察生物标本经常受到充电问题的影响。当电子束用于非导电性材料时,就会产生电荷,从而引起辐照,导致样品表面静电电荷的积累。亚博网站下载这种电荷的累积会使样品的成像和化学分析特别具有挑战性。

高质量的扫描电镜技术

为了缓解这个常见的问题,可以使用简单的方法;例如,在样品表面应用导电层,或在较高压力下成像。

然而,需要注意的是,使用不适当的涂层或低真空观察可能会降低仪器的分辨率,潜在地隐藏微妙的结构,否则会对电子显微镜的性能和分析潜力产生负面影响。

高质量的扫描电镜技术,就像小说TESCAN S8000扫描电子显微镜可以帮助避免常见问题,如通过其BrightBeam™SEM柱技术充电。

通过使用这样的先进技术,即使在观察非导电的充电样品时,也可以获得清晰、干净和清晰的图像。这种先进的成像甚至可以获得无需依赖低束能量或使用导电涂层。

TESCAN S8000扫描电子显微镜

TESCAN S8000的设计确保了高信号吞吐量可以实现,即使在非常低的波束能量。在一个已经很强大的检测系统上增加新的过滤技术意味着充电可以大大减少。

下面的图片展示了TESCAN S8000如何结合这些非常有用的特性来检测硅藻细胞的细胞壁。

在这里,贝壳具有高度复杂的形态,包括由许多纳米孔组成的表面。

在这种非导电性生物样本上使用传统的成像技术在以前是很有挑战性的,因为表面有大量电荷积聚,但是TESCAN S8000它的BrightBeam™柱技术允许在不引起充电工件的情况下获得出色的图像。它还提供了更高的空间分辨率,即使是在硅藻等问题样本上。

左图为硅藻壳壁的横向概况,右图为硅藻壳壁的细节。地形对比是通过E-T探测器实现的

图1所示。左图为硅藻壳壁的横向概况,右图为硅藻壳壁的细节。地形对比是通过E-T探测器实现的。

左边是硅藻细胞壁的概览,右边是表面的细节。为提高E-T探测器的表面灵敏度,在1 keV下对结构进行成像

图2。左边是硅藻细胞壁的概览,右边是表面的细节。为提高E-T探测器的表面灵敏度,在1 keV下对结构进行成像。

该信息来源于TESCAN美国公司提供的材料,并经审查和改编。亚博网站下载

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  • 美国心理学协会

    TESCAN USA Inc . .(2019年8月01)。利用扫描电镜对非导电样品进行电荷消除。AZoM。2021年7月2日从//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=16038取回。

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    TESCAN USA Inc . .“使用扫描电镜对非导电样品进行电荷消除”。AZoM.2021年7月02。< //www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=16038 >。

  • 芝加哥

    TESCAN USA Inc . .“使用扫描电镜对非导电样品进行电荷消除”。AZoM。//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=16038。(访问2021年7月2日)。

  • 哈佛大学

    TESCAN USA Inc . .2019.利用扫描电镜对非导电样品进行电荷消除.AZoM, 2021年7月2日观看,//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=16038。

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