亚纳米尺度陶瓷成像与分析的扫描电子显微镜

由卡尔蔡司显微镜有限公司2018年7月19日

这篇文章有助于了解下一代先进陶瓷的发展，并更好地了解多孔结构和烧结过程，改进生产，并减少使用显微镜上市时间。

氧化锌纳米颗粒。yabo214在ZEISS GeminiSEM 450上使用Inlens SE探测器，3 kV。

氧化锌纳米颗粒。yabo214在ZEISS GeminiSEM 450上使用Inlens SE探测器，3 kV。

ZrO/Al2O3纳米颗粒的高分辨率EDS分析。yabo214使用NanoVP, 5 kV, 2 nA, 20 Pa在ZEISS GeminiSEM 450上10分钟拍摄。

ZrO/Al的高分辨率EDS分析₂O_3.纳米粒子。yabo214使用NanoVP, 5 kV, 2 nA, 20 Pa在ZEISS GeminiSEM 450上10分钟拍摄。

在氧化物纳米颗粒中有很强的材料对比。yabo214在ZEISS GeminiSEM 450上使用2kv的EsB探测器。

在氧化物纳米颗粒中有很强的材料对比。yabo214在ZEISS GeminiSEM 450上使用2kv的EsB探测器。

图像是在未经涂层的样品上拍摄的，不需要溅射涂层。

在单一的工作流程中无缝地描述新的陶瓷材料亚博网站下载

单一的工作流程可用于优化陶瓷显影，避免费时的样品制备，从而增加研究时间。蔡司GeminiSEM 450为高分辨率的分析和成像提供全面的灵活性和易用性。

蔡司GeminiSEM 450

通过使用ZEISS GeminiSEM 450，您可以对高效的合成工艺、前体粉末的化学配方和煅烧处理的优化获得信心。在不影响分辨率的情况下，实时EDS成像和绘图可以更好地观察非导电样品组成的均匀性。

通过量化均匀度，可以更好地理解烧结过程中工艺变量的影响，以获得优选的最终产品。Inlens EsB检测器蔡司GeminiSEM 450有助于分析多个感兴趣区域的相位分布。

亚纳米尺度陶瓷的成像与分析

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样品室	内径330毫米，高度270毫米附件端口:腔室上有10个附件端口，其中3个用于分析应用，起飞角度35º
样品阶段	5轴电动中心体标本阶段 X = 130mm;Y = 130毫米 Z = 50mm T = -4º~ 70º R = 360º(连续) 可根据要求提供其他阶段选项
加速电压	0.02 - 30kv
调查当前	3pa - 40na(也可配置100na或300na)
基本配置中可用的检测器	Inlens二次电子探测器埃弗哈特·索恩利二次电子探测器高效VPSE检测器(包括可变压力选项)
选择可选的探测器	Inlens EsB探测器(Inlens能量选择反向散射) 能谱仪(能谱仪) 电子背散射衍射探测器环形STEM探测器(aSTEM4) NanoVP 局部电荷补偿串联贴花

这些信息来源于卡尔蔡司显微技术有限公司提供的材料。亚博网站下载

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美国心理学协会
卡尔蔡司显微镜有限公司。(2019年10月25日)。亚纳米尺度陶瓷成像与分析的扫描电子显微镜。AZoM。于2021年6月24日从//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=15977检索。
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芝加哥
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哈佛大学
卡尔蔡司显微镜有限公司。2019.亚纳米尺度陶瓷成像与分析的扫描电子显微镜．AZoM, viewed June 24 2021, //www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=15977。