x射线微计算机断层扫描(microCT)分析-大视场高通量成像

近年来,ZEISS重新定义了三维X射线断层摄影测量与它的开创性蔡司Xradia Ultra和Xradia Versa的产品系列的实验室进行的方式。通过组合同步加速器启发光学和采集方法,这些X射线显微镜(XRM)穿过许多的制约基于实验室的计算机断层成像的传统障碍,提供等同于束线的仪器的性能。

蔡司现在已经扩大了实验室x射线成像仪器的范围,采用了一种先进的微型计算机断层扫描(microCT)系统蔡司Xradia语境微型电脑。该仪器将扩大与高通量成像,和完整的上下文,视场大祭,而蔡司Xradia Ultra和Xradia Versa的X射线显微镜将继续处理复杂的3D成像的问题,特别是在高分辨率的要求是很重要的。蔡司Xradia语境微型电脑将允许用户像小型和大型物体,解决范围广泛的具有建立在高数据质量和其蔡司Xradia一直被称为高性能基础计算机断层扫描应用。

强大的舞台和灵活的软件控制源/探测器定位,使用户能够在全3D环境下对重(25公斤)、大、高的样品进行成像,或对小样品进行亚微米分辨率的几何放大。使用高像素密度检测器(600万像素),用户可以在相对较大的成像体积(拼接后可达140 x 165毫米视场)内解决细节问题。用户从中受益:

  • 快速曝光和数据重建时间,包括自动重建
  • 由于易于使用的scoutand - scan控制系统,快速样品安装和校准和流线型采集工作流程
  • 原位选择进行4D实验
  • 建立可用性和图像质量 - 基于相同的平台,以及 - 认为ZEISS Xradia的Versa系列,包括选择的高纯度的透视过滤器和复杂的获取控制算法优化的稳定性
  • 可选的自动加载机用于自动处理和向上的顺序扫描到14个样品

蔡司Xradia语境微型电脑提供了完整的情况下,视场大,和高通量成像

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服务于广泛的应用范围

蔡司Xradia上下文微型电脑提供了多种应用,从学术研究通过对工业检测和工艺开发范围:

  • 特征分析破解,孔隙率,或在结构和原料等的细节,包括添加剂制造的部件,异构岩石类型,复合材料,混凝土,保护涂层,或矿化组织。亚博网站下载
  • 实现完整的上下文和大型设备完整无损的3D数据,如电子元件和功能的电池,大的原料样品,例如,整个芯和生物标本。亚博网站下载
  • 通过进行4D进化研究原位样品处理或非原位处理,以了解材料变形、腐蚀、电化学循环或流体流动等现象。
  • 探索范围广泛的生命科学样本,从单个骨骼到整个有机体,以进行亚博老虎机网登录内部结构的无损分析和区域定位,以进行进一步的分析或成像。

通过锂离子电池阴极的三维扫描和虚拟横截面。这个阴极是从一个循环电池中提取出来的,它显示了电极粒子和电流收集器的损坏。yabo214样品赠送:亚琛工业大学ISEA教授D. U. Sauer和E. Figgemeier教授

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纤维复合材料的少量样品进行扫描以高分辨率与ZEISS Xradia语境显微CT。此复合材料包含在聚合物基质中碳和玻璃纤维,其被具有高对比度解决。

纤维复合材料的少量样品进行扫描以高分辨率与ZEISS Xradia语境显微CT。此复合材料包含在聚合物基质中碳和玻璃纤维,其被具有高对比度解决。

愿与用户需求实现增长

评估实验室X射线技术的发展,ZEISS超越现有的实验室X射线成像市场与常规的壁垒蔡司Xradia超和Xradia Versa的XRM系列产品。ZEISS Xradia超创建了空间分辨率低一个完全不同的操作空间50纳米,为研究人员提供机会检查较早只能破坏性连续切片的方法用电子显微镜相结合被访问内部结构。蔡司Xradia Versa的,在一定距离(拉德)技术的新的解决方案铺平了道路,维持亚微米,甚至在更大源样品的工作距离高分辨率成像条件,对大样本大大扩大高性能数据采集操作空间,内苛求原位环境,或复杂的成像模式,如衍射对比度或相位对比度断层成像。

通过新提供的模块、功能和升级选项,以满足客户不断变化的需求,蔡司继续扩展其x射线成像产品在该领域的能力。现在,蔡司Xradia上下文是这个家族的一部分,并继承了同样的承诺,以确保客户的初始投资在未来得到很好的保护。随着对高性能的需求不断增加,ZEISS Xradia Context是唯一一种可以在该领域转化为ZEISS Xradia Versa x射线显微镜的微ct,完全获得先进的功能和高性能,ZEISS Versa系列已成为流行。

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引用

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  • 美国心理学协会

    卡尔蔡司显微镜有限公司。(2019年10月25日)。X射线断层摄影(微型电脑)分析 - 查看高通量成像的大视场。AZoM。从//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=15964检索2021年9月29日。

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    卡尔蔡司显微镜有限公司。“x射线微计算机断层扫描(microCT)分析-大视场高通量成像”。氮杂.9月29日2021年

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    卡尔蔡司显微镜有限公司。“x射线微计算机断层扫描(microCT)分析-大视场高通量成像”。AZoM。//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=15964。(2021年9月29日生效)。

  • 哈佛大学

    卡尔蔡司显微镜有限公司。2019.x射线微计算机断层扫描(microCT)分析-大视场高通量成像.AZoM,观看2021年9月29日,//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=15964。

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