使用Latticeax在校正之前通过高度限制检查样本

Latticegear开发了一种简单的方法,可重复切割小型样品,使其保持样品面部清洁。通常需要在高分辨率扫描电子显微镜中检查样品。

该视频显示如何使用Latticeax系统从较大的样本中制作4mm x 3 mm的样本。可以使用任何几种可用的LatticeAx系统。首先标记样品清楚地标记,以沿两侧切割。沿着标记线沿一侧缩进样品。然后用真空镊子拾取,以避免损坏,然后用常规的镊子握住。然后使用Latticegear小钳子来裂解样品进行样品切割。在另一边重复相同的过程。

缩小样品用于使用Latticeax的高度限制检查SEM

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    Latticegear。(2019年7月15日)。在具有高度限制的SEM检查之前,使用Latticeax将样品缩小。Azom。在2021年8月19日从//www.washintong.com/article.aspx?articled=15393中检索。

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    Latticegear。“在具有高度限制的SEM检查之前,使用Latticeax将样品缩小。氮杂。2021年8月19日。

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    Latticegear。“在具有高度限制的SEM检查之前,使用Latticeax将样品缩小。Azom。//www.washintong.com/article.aspx?articled=15393。(访问2021年8月19日)。

  • 哈佛

    Latticegear。2019年。使用Latticeax在校正之前通过高度限制检查样本。Azom,查看了2021年8月19日,//www.washintong.com/article.aspx?articleid=15393。

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