对五种不同类型的o形环进行了测试iNanoKLA的压痕系统。表1显示了每一项的数据。在室温下,用D= 100µm的扁圆柱冲头测量每个o形环的复模量。该方法是“动态平面冲头复模量”,即冲头向下挤压,直至与o形环完全接触。此时,使用iNano在1到200赫兹的振荡频率范围内寻找存储模量(E’)和损耗模量(E”)。
表1。o形环样品信息
ID |
产品名称 |
35 Hz (MPa)下的存储模量 |
35hz (MPa)时的损耗模量 |
损耗因子在35赫兹 |
1 |
耐油丁腈橡胶多用途o型密封圈,尺寸210 |
34.40±0.93 |
6.11±0.13 |
0.18±0.001 |
2 |
超弹性高温硅环 |
18.53±0.55 |
1.16±0.04 |
0.06±0.001 |
3. |
耐多用途o形环 |
14.93±0.65 |
7.42±0.32 |
0.50±0.003 |
4 |
Steam-Resistant三元乙丙橡胶o形环 |
47.33±0.68 |
6.06±0.07 |
0.13±0.003 |
5 |
耐油丁腈橡胶多用途o型密封圈,尺寸202 |
27.96±0.62 |
5.38±0.07 |
0.19±0.003 |
的iNano仪器式压痕系统可以评估与传统DMA相同的参数,但测量更集中,结果更快更容易获得。例如,图1显示了存储模量(也称为弹性),图2显示了损耗模量(或阻尼)与频率变化的关系。很明显,测试的o形环之间的力学性能有很大的不同,这意味着环的选择应该与应用相适应。例如,硅o型环表现出的性能随振荡频率变化不大,但其他的性能随振荡频率而变化,特别是样品3耐化学腐蚀o型环。
图1所示。用振荡压痕法测量o形环样品的存储模量
图2。用振荡压痕法测量o形环样品的损耗模量
这些信息来源于KLA-Tencor公司Nanomechanics, Inc.提供的材料。亚博网站下载
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