ClemexCIR系统din、JIS和ASTM标准

双钢样本同组装

目的分析

显示Clemex兼容性评分系统辨别、分类、测量和评分样本所含值的能力结果必须按照JISG0555、ASTME45和DINK标准表达

app亚博体育设备使用

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图像分析系统 克利姆克斯CIR
显微镜 : LeicaDMDI8x目标100x放大
摄像头: ClemexL1.3MP (1280x1024)
阶段化 : 机动Marzhauser2)自动机驱动

程程

分析放大为100X标定因子0.7438m/pixel搭建匹配拟用户放大

第一步分析是调整接触并验证阈值,如图1所示以灰度为基础,阈值定义对象识别与否和它是否为氧化物或硫化物;氧化物因形状而异

灰度阈值检测氧化物和硫化物

图1灰度阈值检测氧化物和硫化物

第二步是定义从WorkPlace窗口根据Edit选项分析样本和热数最多6热6样本共36个样本可分析在当前项目中,2个样本和1个热记录供进一步分析

从同一个窗口中,模式选项允许按图2显示指定所需处理数据对每一种样本都指定自聚焦模版、字段模式和嵌入取方向(供重连用)。ClemexCIR系统立即表示字段模式覆盖的相应区域样本分析后,键入“set”按钮并插入新分析模式

模式选项允许具体说明必要的处理信息

图2模式选项允许具体说明必要的处理信息

模式位置需要修改时双击模式字段,舞台移动到相应位置,对应图像出现在图像窗口中必须指出,所有模式设置必须在下次分析会话期间重新装入ClemexCIR系统

分别为第一和第二样本设置了10x10字段分析模式和15x15字段分析模式样本总分析面积分别为71.79毫米2和161.53毫米2每种模式都指定自聚焦模版

从 Run选项中指定样本分析系统预选所有新定义样本立即启动按键ClemexCIR系统启动分析 取不到5分钟处理当前分析 包括2个样本

分析完成后结果窗口出现,图3显示ClemexCIR系统后从工作场所窗口选择结果选项图4显示目前所选样本图像窗口上出现每一类相容图每种类别中,方形特定颜色表示最差字段(重和薄)。为了验证结果,最差字段双击,舞台转回对应样本位置,检测到的嵌入最终识别(图5和6)。如果从准备过程遗留的灰尘或擦擦确定为包含式,单击从结果中消除

结果窗口显示运行完成

图3结果窗口显示运行完成

封装图和样本2最差字段(薄重)

图4封装图和样本2最差字段(薄重)

缩放aluma最差域

图5缩放aluma最差域

双击最差域执行, stage回溯到对应样本的相应位置并显示检测到的内含

图6双击最差域执行, stage回溯到对应样本的相应位置并显示检测到的内含

容入多字段后,ClemexCIR系统从不同组件重构整容积,整段分入评分

结果

结果窗口以具体标准方式表达结果很容易获取选择ASTME45A、ASTME45C、ASTME45D、ASTME45E、DINM、DINK和JISG0555方法从同窗口可视化定级超尺寸整合细节(类型、宽度、长度和样本)。第一部分报告无一例外地具体说明了每一样本的一些关键信息

下一步ClemexCIR结果报告打印公司名、部门名和用户名都具体说明,它们都显示为页眉并列打印报表时间日期所得结果也可导出供日后使用任一案例(输出或打印)、特定分析法、组合或所有案例本可选择超大列表非可选性并总是出现

构建文本编辑器报表时,可按需复制并粘贴任何图像。

最差字段和填充图也能实现同样目标

讨论

ClemexCIR系统是专为这类分析开发的它可以区分二二维化物与环状物,硫化物与二维化物并按DIN、JIS和ASTM标准评分

ClemexCIR系统集成算法歧视范围很广的相容性分析时间每字段大约需要一秒,但每个自焦点也大约需要二秒样本2不考虑ASTM标准(160mm2)所需的表面,因为样本不够大

横向抛光抓痕和从准备中残留的灰尘被检测为嵌入式虽然这些结果不遗余力消除,但从尽可能干净样本开始会减少验证处理时间

以上所有结果可复制

引用

开工结果

ClemexCIR报告

亚博网站下载这些信息取自Clemex技术提供的材料并经过审查修改

详情请访问Clemex技术.

引用

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