薄膜测量用样品系列光谱仪

由...赞助B＆W TEK2016年9月29日

多年来，UV-Vis-Nir模块化光谱仪已被用于测量表面上的薄膜。例如，为了测量硅晶片表面的透射率和反射率，可以测量破坏性和建设性干扰，并且可以计算薄膜的厚度，以计算到数十埃（最多几层）。

由于其快速的扫描速度，使用光纤探头的灵活性和可重复性，现代光谱仪模块是这种应用的理想选择。

硅晶片

图1。硅晶片

B&W Tek的Exemplar系列光谱仪具有使薄膜测量变得简单、快速和准确的功能。这些光谱仪具有1 ms的低积分时间和小于95 ns(±20抖动)的低触发延迟。通过OEM模块标准，Exemplar光谱仪是可重复和快速的，并且可以使用B&W Tek的软件开发工具包(SDK)轻松实现(图2)。

BWSpec®移动增强移动光谱数据采集软件

图2。BWSPEC.^®移动增强型移动频谱数据采集软件

示例系列的主要优点

示例性光谱仪提供许多优点，包括1 ms的低积分时间;内置微处理器，用于车载光谱处理;和35 ns±5 ns抖动的低外部触发延迟。光谱仪也配有USB 3.0，便于高速数据传输。

多通道功能可以支持多达32个光谱仪，而无需额外的硬件。此外，光谱仪的功能可以完全由SDK控制。

为了在短时间内进行高质量的测量，必须具有钨氘/钨卤素源，纤维反射探针支架（FPH），a示例序列光谱仪(UV-VIS-NIR)、软件开发工具包(SDK-S)、光纤反射探头或分叉光纤组件(FRP/BRS)。

使用Exemplar系列光谱仪和其他设备测量硅片表面的反射率。app亚博体育

图3。使用Exemplar系列光谱仪和其他设备测量硅片表面的反射率。app亚博体育

此信息已采购，从B＆W TEK提供的材料进行审核和调整。亚博网站下载

有关此来源的更多信息，请访问黑与白Tek。

请使用以下格式之一在您的论文，纸张或报告中引用本文：

美国心理学协会
黑与白Tek。(2019年10月22日)。薄膜测量用样品系列光谱仪。AZoM。2021年6月22日从//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=13199获取。
MLA.
黑与白Tek。“用于薄膜测量的示例性系列光谱仪”。氮杂．2021年6月22日。。
芝加哥
黑与白Tek。“用于薄膜测量的示例性系列光谱仪”。AZoM。//www.washintong.com/article.aspx?articled=13199。（访问2021年6月22日）。
哈佛大学
黑与白Tek。2019年。薄膜测量用样品系列光谱仪．AZoM, 2021年6月22日观看，//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=13199。